복수의 자동 테스트 장비 채널을 교정하기 위한 회로 및 방법
복수의 자동 테스트 장비 채널을 교정하기 위한 회로는 ATE 채널들 중 하나에 전류를 제공하고/하거나 ATE 채널 중 하나로부터의 전류를 측정하도록 구성된 공통 측정 유닛을 포함한다. 공통 측정 유닛은 공통 측정 포트를 포함하는데, 이는 공통 측정 유닛의 공통 측정 포트와 ATE 채널의 각각의 DUT 포트 사이에 접속된 각각의 다이오드를 통해 복수의 ATE 채널과 결합된다. 방법도 개시된다. A circuit for calibrating a plurality of automated test equipment channels comp...
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Format: | Patent |
Sprache: | kor |
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Zusammenfassung: | 복수의 자동 테스트 장비 채널을 교정하기 위한 회로는 ATE 채널들 중 하나에 전류를 제공하고/하거나 ATE 채널 중 하나로부터의 전류를 측정하도록 구성된 공통 측정 유닛을 포함한다. 공통 측정 유닛은 공통 측정 포트를 포함하는데, 이는 공통 측정 유닛의 공통 측정 포트와 ATE 채널의 각각의 DUT 포트 사이에 접속된 각각의 다이오드를 통해 복수의 ATE 채널과 결합된다. 방법도 개시된다.
A circuit for calibrating a plurality of automated test equipment channels comprises a central measurement unit configured to provide a current to one of the ATE channels and/or to measure a current from one of the ATE channels. The central measurement unit comprises a central measurement port, which is coupled with the plurality of ATE channels via respective diodes circuited between the central measurement port of the central measurement unit and respective DUT ports of the ATE channels. |
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