TEST SOCKET AND TEST APPARATUS HAVING THE SAME MANUFACTURING METHOD FOR THE TEST SOCKET

A test socket according to the present invention is a test socket disposed between a device to be inspected and a tester to electrically connect a terminal of the device to be inspected and a signal electrode of the tester. The test socket comprises: a plurality of conductive parts formed at each position corresponding to the terminal of the device to be inspected and having a plurality of conductive particles arranged in the thickness direction within insulating silicone rubber; an insulating part that supports the conductive parts and insulates each conductive part from each other; and a contact position adjusting part provided in the insulating part to match a contact position between the terminal of the device to be inspected and the conductive parts when testing the temperature of the device to be inspected. The contact position adjusting part is configured to expand and contract the insulating part by heating or cooling the insulating part. 본 발명에 따른 테스트 소켓은 피검사 디바이스와 테스터 사이에 배치되어 상기 피검사 디바이스의 단자와 테스터의 신호전극을 서로 전기적으로 연결하는 테스트 소켓으로서, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 형성되며, 절연성 실리콘 고무 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되는 복수의 도전부; 상기 도전부를 지지하면서 각각의 도전부를 서로 절연시키는 절연부; 및 상기 피검사 디바이스의 온도 테스트 시, 상기 피검사 디바이스의 단자와 상기 도전부 간의 접촉위치를 일치시키기 위해 상기 절연부 내에 마련되는 접촉위치 조정부; 를 포함하되, 상기 접촉위치 조정부는 상기 절연부를 가열하거나 냉각하여 상기 절연부가 신축되도록 구성된다.