PLASMA PROBE AND METHOD FOR ASSEMBLY OF ITS ELECTRODE
A plasma probe (11) according to the present invention comprises a hose with a conductor arranged therein to support an electrode (20) at least at a distal end thereof. The electrode (20) is either directly secured on the conductor (21) or the conductor (21) is provided with a plastic sheathing (22)...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | A plasma probe (11) according to the present invention comprises a hose with a conductor arranged therein to support an electrode (20) at least at a distal end thereof. The electrode (20) is either directly secured on the conductor (21) or the conductor (21) is provided with a plastic sheathing (22) at least at a distal end thereof by which the electrode (20) is held. The electrode (20) can be inserted between the conductor (21) and the plastic sheathing (22) and can be clamped in this manner. After first use, the plastic sheathing (22) can be fused to the electrode (20). The conductor (21) is placed with clearance inside a channel or a hollow space of the electrode (20), however, whereby also in case of spot-like contact between the conductor (21) and the electrode (20), due to the gap provided therebetween, heat transmission from the electrode (20) on the conductor (21) is impeded and heat introduction in the plasma probe (11) is limited. The limitation benefits the lifetime of the plasma probe (11) and concurrently reduces an outer temperature and sticking tendency to tissue. Therefore, the risk of an undesired perforation of sensitive or thin tissue layers is reduced. In addition, the concept according to the present invention allows a long-term preservation of the roundness of the probe.
본 발명에 따른 플라즈마 프로브(11)는 적어도 원위 단부에서 전극(20)을 지지하는 도체가 내부에 배열된 호스를 포함한다. 전극(20)은 도체(21)에 직접 고정되거나 도체(21)에는 전극(20)이 유지되는 적어도 원위 단부에 플라스틱 외피(22)가 제공된다. 전극(20)은 도체(21)와 플라스틱 외피(22) 사이에 삽입될 수 있고 이러한 방식으로 클램핑될 수 있다. 처음 사용 후 플라스틱 외피(22)는 전극(20)에 융합될 수 있다. 어떠한 경우에도, 도체(21)는 전극(20)의 채널 또는 중공 공간 내부에 틈새를 두고 배치되지만, 이로 인해 도체(21)와 전극(20) 사이에 스폿형 접촉의 경우에도 이들 사이에 제공되는 갭으로 인해, 도체(21) 상의 전극(20)으로부터의 열 전달이 방해를 받아 플라즈마 프로브(11)로의 열 도입이 제한된다. 이는 플라즈마 프로브(11)의 수명에 도움이 되고 동시에 외부 온도와 조직에 달라붙는 경향을 감소시킨다. 그렇게 함으로써, 민감하거나 얇은 조직 층의 원하지 않는 천공의 위험이 감소된다. 또한, 본 발명에 따른 개념은 프로브의 진원도(roundness)의 장기간 보존을 허용한다. |
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