Method of manufacturing semiconductor device and Method of separating substrate
According to embodiments of the present invention, a method of manufacturing a semiconductor device comprises: providing a release layer between a first surface of a device substrate and a carrier substrate to attach the device substrate to the carrier substrate; emitting ultraviolet rays onto the c...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | According to embodiments of the present invention, a method of manufacturing a semiconductor device comprises: providing a release layer between a first surface of a device substrate and a carrier substrate to attach the device substrate to the carrier substrate; emitting ultraviolet rays onto the carrier substrate to separate the carrier substrate from the release layer and expose one surface of the release layer; and performing a cleaning process on the one surface of the release layer to expose the first surface of the device substrate. The release layer may include an aromatic polymerization unit and a siloxane polymerization unit.
본 발명의 실시예들에 따르면, 반도체 장치 제조 방법은 디바이스 기판의 제1 면과 캐리어 기판 사이에 이형층을 제공하여, 상기 디바이스 기판을 상기 캐리어 기판에 부착시키는 것; 상기 캐리어 기판 상에 자외선을 조사하여, 상기 캐리어 기판을 상기 이형층으로부터 분리시키고, 상기 이형층의 일면을 노출시키는 것; 및 상기 이형층의 상기 일면 상에 세정 공정을 수행하여, 상기 디바이스 기판의 상기 제1 면을 노출시키는 것을 포함하고, 상기 이형층은 방향족 중합 단위 및 실록산 중합 단위를 포함할 수 있다. |
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