반도체 물질로 제조된 기판 웨이퍼 상에 에피택셜층을 성막하기 위한 방법 및 장치
반도체 물질로 제조된 기판 웨이퍼 상에 에피택셜층을 성막하기 위한 방법 및 장치. 방법은, 상기 기판 웨이퍼가 서셉터 상에 안착되고 상기 서셉터가 지지 샤프트의 암에 의해 홀딩되도록 하는 성막 디바이스 내에서의 상기 기판 웨이퍼와 상기 서셉터의 배열; 상기 서셉터를 둘러싸는 예열 링의 위치에 관한 상기 서셉터의 위치에 대하여 상기 서셉터의 오정렬이 존재하는지 여부를 모니터링하는 단계; 상기 예열 링의 위치에 관한 상기 지지 샤프트의 위치에 대하여 상기 지지 샤프트의 오정렬이 존재하는지 여부를 모니터링하는 단계; 상기 오정렬들 중 적...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 반도체 물질로 제조된 기판 웨이퍼 상에 에피택셜층을 성막하기 위한 방법 및 장치. 방법은, 상기 기판 웨이퍼가 서셉터 상에 안착되고 상기 서셉터가 지지 샤프트의 암에 의해 홀딩되도록 하는 성막 디바이스 내에서의 상기 기판 웨이퍼와 상기 서셉터의 배열; 상기 서셉터를 둘러싸는 예열 링의 위치에 관한 상기 서셉터의 위치에 대하여 상기 서셉터의 오정렬이 존재하는지 여부를 모니터링하는 단계; 상기 예열 링의 위치에 관한 상기 지지 샤프트의 위치에 대하여 상기 지지 샤프트의 오정렬이 존재하는지 여부를 모니터링하는 단계; 상기 오정렬들 중 적어도 하나가 존재하는 경우, 각각의 오정렬의 제거; 및 상기 기판 웨이퍼 상에서의 상기 에피택셜층의 성막을 포함한다.
A method and an apparatus for depositing an epitaxial layer on a substrate wafer made of semiconductor material. The method comprises the arrangement of the substrate wafer and a susceptor in a deposition device such that the substrate wafer rests on the susceptor and the susceptor is held by arms of a support shaft; monitoring whether a misalignment of the susceptor exists with respect to its position relative to the position of a pre-heating ring surrounding it; monitoring whether a misalignment of the support shaft exists with respect to its position relative to the position of the pre-heating ring; if at least one of the misalignments is present, elimination of the respective misalignment; and the deposition of the epitaxial layer on the substrate wafer. |
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