System and Method for testing sampled value of digital substation automatically

Disclosed is a system for testing a sampled value of a digital substation automatically that can collect a sampling value of a digital substation in real time through a network and automatically verify performance meeting user requirements. The system for testing a sampled value comprises: a measure...

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Hauptverfasser: KIM SEOK KON, LEE CHANG SEOP, KIM NAM DAE, KIM WOO JOONG, LEE NAM HO
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:Disclosed is a system for testing a sampled value of a digital substation automatically that can collect a sampling value of a digital substation in real time through a network and automatically verify performance meeting user requirements. The system for testing a sampled value comprises: a measurement signal generator for generating a measurement signal; a test target device that converts the measurement signal into a digital signal to generate the sampling value of a digital substation; and a test device that automatically executes a test on the sampled value according to a test case generated based on one test model selected among a plurality of preset test models. 디지털 변전소의 샘플링 값을 네트워크를 통해 실시간으로 수집하여 사용자 요구조건에 맞는 성능을 자동으로 검증할 수 있는 샘플링 값 자동 시험 시스템이 개시된다. 상기 샘플링 값 자동 시험 시스템은, 계측 신호를 생성하는 계측 신호 발생 장치, 상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 시험 대상 장치, 및 미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.