광원, 분광 분석 시스템 및 분광 분석 방법
발광 다이오드(51X)와, 상기 발광 다이오드(51X)로부터 출력된 광의 파장을 변환하도록 구성되는 파장 변환부(52X)와, 상기 파장 변환부(52X)로부터 출력된 광을 집광하도록 구성되는 집광부(54X)를 포함하는 광원, 그리고 광의 파장이 서로 다른 복수 개의 발광 소자로부터 출력된 광을 혼합하도록 구성되는 혼합부를 포함하는 광원, 또한 상기 광원으로부터 조사되어 대상물로부터 반사된 광을 분광시켜 분광 데이터를 취득하도록 구성되는 분광 측정부를 포함하는 분광 분석 시스템. A spectroscopic analysis system...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | kor |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | 발광 다이오드(51X)와, 상기 발광 다이오드(51X)로부터 출력된 광의 파장을 변환하도록 구성되는 파장 변환부(52X)와, 상기 파장 변환부(52X)로부터 출력된 광을 집광하도록 구성되는 집광부(54X)를 포함하는 광원, 그리고 광의 파장이 서로 다른 복수 개의 발광 소자로부터 출력된 광을 혼합하도록 구성되는 혼합부를 포함하는 광원, 또한 상기 광원으로부터 조사되어 대상물로부터 반사된 광을 분광시켜 분광 데이터를 취득하도록 구성되는 분광 측정부를 포함하는 분광 분석 시스템.
A spectroscopic analysis system includes a light source including a light emitting diode (51X), a wavelength converter (52X) configured to convert a wavelength of light output from the light emitting diode (51X), and a condenser (54X) configured to condense light output from the wavelength converter (52X), the light source including a mixing section configured to mix light output from the plurality of light emitting elements, and the wavelength of the light output from the plurality of light emitting elements being different, and a spectroscopic measurement section configured to acquire spectroscopic data by dispersing light reflected from an object on which the light source emits the light. |
---|