Spectrogram A method of analyzing the similarity of the product manufacturing process using a spectrogram

The present invention relates to a similarity analysis method of a product manufacturing process using a spectrogram, which can determine a change in a state of a currently operating machine in real time, comprising the steps of: deriving first vibration information; deriving first spectrogram information; deriving second vibration information; deriving second spectrogram information; and determining whether a machine is within a normal operating range. 본 발명은 임의의 기계 장치가 정상적인 작동 조건에서 구동하는지 여부를 실시간으로 파악할 수 있는 "스펙트로그램 (Spectrogram)을 이용한 제품 제조 공정의 유사도 분석 방법방법"을 제안하고자 한다. 본 발명에서 제안하는 스펙트로그램 (Spectrogram)을 이용한 제품 제조 공정의 유사도 분석 방법은, (a) 정상 작동 상태로 세팅되어 있는 기계 장치의 일측에 진동 센서를 부착한 후 소정 기간의 시간 변화에 따른 제 1 진동 정보를 도출하는 단계; (b) 시간 변화에 따른 상기 제 1 진동 정보로부터 제 1 스펙트로그램 정보를 도출하는 단계; (c) 상기 기계 장치를 가동시키면서 상기 진동 센서로부터 소정 기간의 시간 변화에 따른 제 2 진동 정보를 도출하는 단계; (d) 상기 제 2 진동 정보로부터 제 2 스펙트로그램 정보를 도출하는 단계; (e) 상기 제 1 스펙트로그램 정보와 상기 제 2 스펙트로그램 정보를 상호 대비하여 가동 상태의 상기 기계 장치가 정상 작동 범위내에 있는지 여부를 판단하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 한다 또한, 본 발명의 또 다른 유사도 판단 방법은 복수개의 제 1 스펙트로그램 최고치를 중심으로 복수개의 제 1 기준범위치를 상하단으로 하는 복수개의 제 1 기준 사각형을 형성하는 단계; 복수개의 제 1 기준 사각형의 첫번째 사각형과 마지막 사각형의 세로축 중심점을 연결하는 일직선의 제 1 선을 구하는 단계; 복수개의 제 2 스펙트로그램 최고치를 중심으로 복수개의 제 2 기준범위치를 상하단으로 하는 복수개의 제 2 기준 사각형을 형성하는 단계; 복수개의 제 2 기준 사각형의 첫번째 사각형과 마지막 사각형의 세로축 중심점을 연결하는 일직선의 제 2 선을 구하는 단계; 상기 제 1 선과 제 2의 중심점을 기준으로 상호 중첩시키는 단계; 복수개의 상기 제 1 기준 사각형과 복수개의 상기 제 2 기준 사각형의 제 1 중첩 영역과 복수개의 상기 제 1 기준 사각형과 복수개의 상기 제 2 기준 사각형에 의하여 형성되는 전체 넓이를 구하는 단계; 상기 제 1 중첩 영역/상기 전체 넓이를 구하여 상기 제 1 스펙트로그램과 상기 제 2 스펙트로그램의 유사도 정도를 판단할 수 있다 본 발명에서는 기계 장치의 일측에 부착되는 진동 센터로부터 스펙트로그램을 각기 도출하고 정상적인 상태의 스펙트로그램을 기준으로 현재 가동 중인 기계 장치의 상태 변화를 실시간으로 판단할 수 있다.