Apparatus and Method for inspecting display

In accordance with one embodiment of the present invention, an apparatus for inspecting a display includes: a support unit supporting a display sample having an effective inspection area and an inspection-unnecessary area; a light radiation unit radiating light to the display sample such that the light is inputted in a direction perpendicular to the surface of the display sample; a spectrum unit measuring a spectrum for reflected light made from the light reflected from the display sample; a moving unit relatively moving the support unit and the light radiation unit; and a control unit controlling the light radiation unit and the spectrum unit such that the light is radiated to the display sample and the spectrum for the reflected light is measured while the light radiation unit passes through the effective inspection area, and one of the procedures of radiating the light to the display sample and measuring the spectrum for the reflected light is stopped while the light radiation unit passes through the inspection-unnecessary area, and determining a structure of a laminator in the effective inspection area based on the measured spectrum data about the effective inspection area. Therefore, the present invention is capable of determining the structure of the laminator of the display sample while minimizing errors through feedback. 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사 장치는 유효 검사 구역 및 검사 불요 구역을 가지는 디스플레이 시료를 지지하는 지지부; 상기 디스플레이 시료의 표면에 수직인 방향으로 광이 입사되도록 상기 광을 상기 디스플레이 시료에 조사하는 광 조사부; 상기 광이 상기 디스플레이 시료로부터 반사된 반사광에 대한 스펙트럼을 측정하는 분광부; 상기 지지부와 상기 광 조사부를 상대적으로 이동시키는 이동부; 및 상기 광 조사부가 상기 유효 검사 구역을 통과하는 동안 상기 디스플레이 시료에 대한 상기 광의 조사 및 상기 반사광에 대한 스펙트럼의 측정을 수행하고, 상기 광 조사부가 상기 검사 불요 구역을 통과하는 동안 상기 디스플레이 시료에 대한 상기 광의 조사 및 상기 반사광에 대한 스펙트럼의 측정 중 하나 이상을 정지하도록 상기 광 조사부 및 상기 분광부를 제어하며, 상기 유효 검사 구역에 대한 측정 스펙트럼 데이터에 근거하여 상기 유효 검사 구역의 적층체의 구조를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.