전력 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 시스템용 고전류 소스 및 테스트 시스템

전력 디바이스(30)를 테스트하기 위한 테스트 시스템에 대한 고전류 소스(200)는 제1 복수의 제1 스위칭 가능 하프-브릿지(212) 및 제2 복수의 제2 스위칭 가능 하프-브릿지(222)를 포함하며, 이는 병렬로 연결되고 이에 의해 테스트 전류가 중복으로 분배된다. 제어 디바이스(280)는 입력 신호에 기초하여, 입력 신호에 대응하는, 테스트 전류에 대한 출력 신호가 제1 스위칭 가능 하프-브릿지(212)와 제2 스위칭 가능 하프-브릿지(222) 사이의 브릿지 브랜치(230)에 걸쳐 인가되는 방식으로 제1 및 제2 하프-브릿지(212, 222)를 제어하도록 설계된다. A high current source (200) for a test system for testing an electric power device (30) comprises a first plurality of first switchable half-bridges (212) and a second plurality of second switchable half-bridges (222), which are connected in parallel and by means of which a test current is redundantly distributed. A control device (280) is designed to control the first and second half-bridges (212, 222) on the basis of an input signal in such a way that an output signal for the test current, which corresponds to the input signal, is applied across a bridge branch (230) between the first switchable half-bridges (212) and the second switchable half-bridges (222).