Quantitative phase imaging device based on light scanning and method of the same

Disclosed are a quantitative phase imaging device and a quantitative phase imaging method, capable of generating a quantitative phase image by using a random form of optical scanning modulating the shape of reference light depending on the shape of an observation object of a sample. In accordance with an embodiment of the present invention, the quantitative phase imaging device includes: a substrate for fixing a sample to be observed; a light source providing light for observing the sample; a light modulator generating reference light by changing the shape of the light provided from the light source depending on the shape of an observation object of the sample; a beam splitter splitting the reference light into first reference light directed toward a first optical path passing through the sample and a second reference light directed toward a second optical path not passing through the sample; and a detector detecting interference light between sample light generated as the first reference light penetrates the sample in the first optical path and the second reference light transmitted along the second optical path without penetrating the sample. 시료의 관찰 대상체의 형상에 따라 참조광의 형상을 변조하는 임의 형태의 광 스캔을 이용하여 정량 위상 이미지를 생성하는 정량 위상 이미징 장치 및 정량 위상 이미징 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 정량 위상 이미징 장치는: 관찰 대상인 시료를 고정하기 위한 기판; 상기 시료를 관찰하기 위한 광을 제공하는 광원; 상기 시료의 관찰 대상체의 형태에 따라 상기 광원으로부터 제공되는 광의 형태를 변화시켜 참조광을 생성하는 광 변조기; 상기 참조광을 상기 시료를 경유하는 제1 광 경로를 향하는 제1 참조광과, 상기 시료를 경유하지 않는 제2 광 경로를 향하는 제2 참조광으로 분기시키는 빔 스플리터; 및 상기 제1 광 경로에서 상기 제1 참조광이 상기 시료를 투과하여 생성되는 시료광과, 상기 제2 광 경로를 따라 상기 시료를 투과하지 않은 채로 전달되는 상기 제2 참조광 간의 간섭광을 검출하는 검출기;를 포함한다.