ELECTRONIC DEVICE PERFROMING TEST FOR DETECTING FAULT OF ELECTRONIC DEVICE AND METHOD THEREOF

According to various embodiments, an electronic device comprises: an application processor comprising an AP internal memory; a power supply device; a volatile memory; and a non-volatile memory, wherein the electronic device enters in an emergency mode using the application processor, loads a first boot service to the AP internal memory, and enables to be configured to test at least one among the power supply device, the volatile memory, or the non-volatile memory using the first boot service. Various other embodiments are possible. 다양한 실시예에 따라서, 전자 장치는, AP 내부 메모리를 포함하는 어플리케이션 프로세서, 전원 공급 장치, 휘발성 메모리, 및 비휘발성 메모리를 포함하고, 상기 어플리케이션 프로세서를 이용하여 긴급 모드에 진입하고, 상기 AP 내부 메모리에 제1 부트 서비스를 선적하고, 상기 제1 부트 서비스를 이용하여, 상기 전원 공급 장치, 상기 휘발성 메모리, 또는 상기 비휘발성 메모리 중 적어도 하나를 테스트하도록 구성될 수 있다. 그 밖의 다양한 실시예가 가능하다.