테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 프로브 시스템 및 방법

테스트 대상 디바이스(DUT, Device Under Test)를 테스트하기 위한 프로브 시스템 및 방법이 본원에 개시된다. 상기 프로브 시스템은, 전기 전도성 접지 루프, 및 상기 전기 전도성 접지 루프의 적어도 일 영역을 통해 접지 전위에 전기적으로 연결된 구조체를 포함한다. 상기 프로브 시스템에는 비선형 회로도 포함한다. 상기 비선형 회로는 상기 비선형 회로 양단의 전압 차이가 임계 전압 차이보다 작을 때 상기 접지 루프 내 전류의 흐름을 차단하고 상기 비선형 회로의 전압 차이가 임계 전압 차이보다 더 클 때 상기 접지 루프 내 전류 흐름을 허용하도록 구성된다. 상기 방법은 전기 전도성 접지 루프 및 비선형 회로를 포함하는 프로브 시스템 내에 테스트 대상 디바이스(DUT)를 포지셔닝하는 것을 포함한다. 상기 방법은 또한 접지 루프 내에서 그리고 비선형 회로를 통한 전류 흐름을 선택적으로 차단하는 것 및 허용하는 것을 포함한다. Probe systems and methods for testing a device under test are disclosed herein. The probe systems include an electrically conductive ground loop and a structure that is electrically connected to a ground potential via at least a region of the electrically conductive ground loop. The probe systems also include nonlinear circuitry. The nonlinear circuitry is configured to resist flow of electric current within the ground loop when a voltage differential across the nonlinear circuitry is less than a threshold voltage differential and permit flow of electric current within the ground loop when the voltage differential across the nonlinear circuitry is greater than the threshold voltage differential. The methods include positioning a device under test (DUT) within a probe system that includes an electrically conductive ground loop and nonlinear circuitry. The methods also include selectively resisting and permitting electric current flow within the ground loop and through the nonlinear circuitry.