Apparatus for checking array of electrode substrate

본 발명은 양전극과 음전극이 서로 번갈아 가면서 적층된 2차전지의 전극들간의 정렬 상태를 검사하는 전극 정렬 상태 검사 장치로서, 2차전지가 안착되고, 전극의 적층 방향으로 승강가능한 전지안착부; X선을 2차전지의 측면에 대해 경사지게 조사하고, 전지안착부의 승강시, X선이 투과되는 2차전지의 측면을 연속 촬영하여, 2차전지의 측면에 대한 복수의 촬영영상을 획득하는 엑스레이촬영부; 및 복수의 촬영영상이 CT영상처리기술에 의해 재구성처리되어, 2차전지의 리드탭에 의해 가려진 부분이 제거된 검사영상으로 출력되는 검사처리부를 포함하는 것...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	CHO CHEOL HOON, LIM YOUNG SAM
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION MEASURING PHYSICS PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSIONOF CHEMICAL INTO ELECTRICAL ENERGY TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 양전극과 음전극이 서로 번갈아 가면서 적층된 2차전지의 전극들간의 정렬 상태를 검사하는 전극 정렬 상태 검사 장치로서, 2차전지가 안착되고, 전극의 적층 방향으로 승강가능한 전지안착부; X선을 2차전지의 측면에 대해 경사지게 조사하고, 전지안착부의 승강시, X선이 투과되는 2차전지의 측면을 연속 촬영하여, 2차전지의 측면에 대한 복수의 촬영영상을 획득하는 엑스레이촬영부; 및 복수의 촬영영상이 CT영상처리기술에 의해 재구성처리되어, 2차전지의 리드탭에 의해 가려진 부분이 제거된 검사영상으로 출력되는 검사처리부를 포함하는 것이 바람직하다. 또는, 본 발명은 양전극과 음전극이 서로 번갈아 가면서 적층된 2차전지의 전극들간의 정렬 상태를 검사하는 전극 정렬 상태 검사 장치로서, 2차전지가 안착되는 전지안착부; X선을 2차전지의 측면에 대해 경사지게 조사하고, 전극의 적층 방향을 따라 승강되면서 X선이 투과되는 2차전지의 측면을 연속 촬영하여, 2차전지의 측면에 대한 복수의 촬영영상을 획득하는 엑스레이촬영부; 및 복수의 촬영영상이 CT영상처리기술에 의해 재구성처리되어, 2차전지의 리드탭에 의해 가려진 부분이 제거된 검사영상으로 출력되는 검사처리부를 포함하는 것이 바람직하다.