결함 검출 방법, 장치, 컴퓨터 기기 및 저장 매체

본 발명은 결함 검출 방법, 장치, 컴퓨터 기기 및 저장 매체를 제공하고, 여기서, 상기 결함 검출 방법은, 검출될 이미지 및 템플릿 이미지를 획득하는 단계; 상기 검출될 이미지에 대해 특징 추출을 수행하여, 상기 검출될 이미지의 제1 특징 이미지를 얻고, 상기 템플릿 이미지에 대해 특징 추출을 수행하여, 상기 템플릿 이미지에 대응되는 제2 특징 이미지를 얻는 단계; 상기 제1 특징 이미지 및 상기 제2 특징 이미지에 대해 특징 혼동 처리를 수행하여, 특징 융합 이미지를 얻는 단계; 및 상기 특징 융합 이미지에 기반하여, 상기 검출될 이미지의 결함 검출 결과를 얻는 단계를 포함한다. 본 발명의 실시예는 더욱 높은 결함 검출 정밀도를 구비한다. The present disclosure provides a defect detection method and apparatus, a computer device, and a storage medium. The method comprises: acquiring an image to be detected and a template image; performing feature extraction on the image to be detected to obtain a first feature map of the image to be detected, and performing feature extraction on the template image to obtain a second feature map corresponding to the template image; performing feature confusion processing on the first feature map and the second feature map to obtain a feature fused image; and obtaining, on the basis of the feature fused image, a defect detection result for the image to be detected. Embodiments of the present disclosure achieve higher defect detection accuracy.