METHOD AND DEVICE FOR THE CONTINUOUS DETERMINATION OF A QUALITY CRITERION

The present invention particularly relates to a method for continuously determination of a quality scale (G) for a system model of a control unit or a technology system of a technology device (3) from an input variable (u) and an output variable (y), and the method includes: recording time series of the input variable (u) and the output variable (y) up to one time step (S1); matching a discrete ARMAX model structure for a determined corresponding time series of the input variable and the output variable to determine a first set of parameters (A) for mapping the time series of the input variable (u) and a second set of parameters (B) for mapping the time series of the output variable (y) (S2); and determining the quality scale (G) according to the first set of parameters (A) and the second set of parameters (B). 본 발명은, 입력 변수(u) 및 출력 변수(y)로부터 기술 장치(3)의 제어부 또는 기술 시스템의 시스템 모델에 대한 품질 척도(G)의 특히 연속적인 결정을 위한 방법에 관한 것이며, 입력 변수(u) 및 출력 변수(y)의 시계열이 하나의 시간 단계에 이르기까지 기록되며(S1), 입력 변수(u)의 시계열의 맵핑을 위한 제1 매개변수 세트(A)와 출력 변수(y)의 시계열의 맵핑을 위한 제2 매개변수 세트(B)를 결정하기 위해, 입력 변수 및 출력 변수의 결정된 상응하는 시계열에 대한 이산형 ARMAX 모델 구조가 매칭되고(S2), 품질 척도(G)는 시간 단계(t)에 대한 제1 매개변수 세트 및 제2 매개변수 세트(A, B)에 따라 결정된다.