A Test Device for a Laser Diode of an Optical Communication

The present invention relates to a test device for a laser diode for optical communication to perform an electrical property test and burn-in test of chip on carrier (CoC) type semiconductor laser devices. According to the present invention, the test device comprises: a component base (11); a plurality of inspection pockets (12a to 12k) formed on the part base (11) and to which parts to be tested are fixed; a probe base (21) coupled to and fixed to the upper part of the part base (11); a plurality of probes (22a to 22k) formed on the probe base (21) and extending into the plurality of inspection pockets (12a to 12k) to come in contact with the parts; and fixing pin modules (14a, 14b, 24a, 24b) limiting relative movement in a coupled state while determining a coupling position of the part base (11) and the probe base (21). 본 발명은 광통신 모듈용 측정 지그에 관한 것이다. 광통신용 레이저다이오드의 테스트 기기는 부품 베이스(11); 부품 베이스(11)에 형성되고, 테스트가 되는 부품이 고정되는 다수 개의 검사 포켓(12a 내지 12k); 부품 베이스(11)의 위쪽 부분에 결합되어 고정되는 프로브 베이스(21); 프로브 베이스(21)에 형성되고, 다수 개의 검사 포켓(12a 내지 12k)으로 연장되어 부품에 접촉 가능한 다수 개의 프로브(22a 내지 22k); 및 부품 베이스(11) 및 프로브 베이스(21)의 결합 위치를 결정하면서 서로 결합된 상태에서 상대적이 이동을 제한하는 고정 핀 모듈(14a, 14b, 24a, 24b)을 포함한다.