광학 필름

본 발명은, 수지 기재와 광학 이방성층의 사이의 밀착성이 우수하고, 광학 이방성층 중에 있어서 광학적 결함의 발생이 억제된 광학 필름을 제공한다. 본 발명의 광학 필름은, 배향 규제력을 갖는 수지 기재와, 수지 기재 상에 배치된 광학 이방성층을 갖는 광학 필름으로서, 광학 이방성층은, 액정 화합물과, 액정 화합물과는 상이한, 헤테로 원자를 갖는 화합물을 포함하고, 광학 필름의 광학 이방성층 측의 표면을 제1 표면으로 하며, 광학 필름의 수지 기재 측의 표면을 제2 표면으로 하고, 제1 표면으로부터 제2 표면 측을 향하여, 이온빔을 조사하면서 비행 시간형 2차 이온 질량 분석법으로 광학 필름의 깊이 방향의 성분을 분석했을 때에, 얻어진 프로파일이 소정의 요건을 충족시킨다. Provided is an optical film with a resin substrate adhered to an optically anisotropic layer and suppression of occurrence of optical defects in the optically anisotropic layer. The optical film has a resin substrate having an alignment regulating force and an optically anisotropic layer arranged thereon, in which the optically anisotropic layer contains a liquid crystal compound and a compound having a heteroatom different from the liquid crystal compound, and in a case where a surface of the optical film on an optically anisotropic layer side thereof is a first surface and a surface of the optical film on a resin substrate side thereof is a second surface, and components of the optical film in a depth direction are analyzed by time-of-flight secondary ion mass spectrometry while irradiating the optical film with an ion beam from the first surface toward the second surface, the obtained profile satisfies a predetermined requirement.