METHOD FOR REPAIRING SEMICONDUCTOR MEMORY MODULE AND ELECRONIC DEVICE THEREFOR

Disclosed is an electronic device including a display, a semiconductor memory module, a memory controller, a processor, and a memory operatively coupled to the processor. The electronic device generates a test signal to detect a defective memory cell of the semiconductor memory module based on a specified period; performs a test operation based on the test signal to detect at least one defective memory cell in a memory cell array included in the semiconductor memory module; and stores data associated with the at least one bad memory cell in the memory when the at least one defective memory cell is detected, wherein the memory controller stores one or more instructions for generating and transmitting a repair signal including data associated with the at least one defective memory cell stored in the memory to the semiconductor memory module. In addition, various embodiments identified through the specification are possible. 디스플레이, 반도체 메모리 모듈, 메모리 컨트롤러, 프로세서, 및 상기 프로세서에 작동적으로(operatively) 연결되는 메모리를 포함하는 전자 장치가 개시된다. 전자 장치는 지정된 주기에 기반하여 상기 반도체 메모리 모듈의 불량 메모리 셀을 검출하도록 하는 테스트 신호를 생성하고, 상기 테스트 신호를 기반으로 테스트 동작을 수행하여 상기 반도체 메모리 모듈에 포함된 메모리 셀 어레이에서 적어도 하나의 불량 메모리 셀을 검출하고, 상기 적어도 하나의 불량 메모리 셀이 검출된 경우, 상기 적어도 하나의 불량 메모리 셀과 연관된 데이터를 상기 메모리에 저장하고, 상기 메모리 컨트롤러는 상기 메모리에 저장된 상기 적어도 하나의 불량 메모리 셀과 연관된 데이터를 포함하는 리페어 신호를 생성하여 상기 반도체 메모리 모듈로 전송하도록 하는 하나 이상의 인스트럭션들(instructions)을 저장할 수 있다. 이 외에도, 명세서를 통하여 파악되는 다양한 실시예들이 가능할 수 있다.