EQUIPMENT FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC PROPERTIES

According to various embodiments, equipment for measuring electromagnetic properties may include: a first antenna; a second antenna; a driving part including one or more motors; at least one tool for moving at least one of the first antenna and the second antenna based on the control of the driving...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KIM SANG YONG, GO JEONG IN, LEE WON JUN, KIM YUN JAE, BAEK SANG MIN, OH WON SEOK, PARK KI JONG, PARK CHAN YIK, SEO MYUNG WON
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:According to various embodiments, equipment for measuring electromagnetic properties may include: a first antenna; a second antenna; a driving part including one or more motors; at least one tool for moving at least one of the first antenna and the second antenna based on the control of the driving part; a first specimen holder rotating based on the control of the driving part; a second specimen holder linearly moving in a first axial direction based on the control of the driving part; and a base for supporting the at least one tool, the first specimen holder, and the second specimen holder. 다양한 실시예에 따르면, 전자기 물성 측정을 위한 장비는, 제1 안테나; 제2 안테나; 하나 이상의 모터를 포함하는 구동부; 상기 구동부의 제어에 기초하여 상기 제1 안테나 및 상기 제2 안테나 중 적어도 하나가 움직이도록 하는 하나 이상의 기구물; 상기 구동부의 제어에 기초하여 회전하는 제1 시편 홀더; 상기 구동부의 제어에 기초하여 제1 축 방향으로 선형 이동하는 제 2 시편 홀더; 및 상기 하나 이상의 기구물, 상기 제1 시편 홀더 및 상기 제2 시편 홀더를 지지하는 베이스를 포함할 수 있다.