물리적 생산 공정을 개선하기 위한 방법 및 시스템
본 발명은, 분석 시스템(6)이 파생 물리적 생산 공정으로부터의 파생 공정 파라미터(7)를 측정하고, 전구체 충전물(3)은 물리적 생산 설비(2)로부터 적어도 50km 떨어져 있는 전구체 생산 설비(8)에서 전구체 생산 공정을 통해서 적용된 전구체 생산 세팅(9)에 기초하여 생산되며, 전구체 충전물(3)은 물리적 생산 설비(2)로 수송되고, 분석 시스템(6)은 전구체 생산 공정으로부터의 전구체 공정 파라미터(11) 및 전구체 충전물(3)로부터의 전구체 제품 파라미터(12)를 측정하며, 분석 시스템(6)은 적용된 파생 공정 세팅(4)...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 본 발명은, 분석 시스템(6)이 파생 물리적 생산 공정으로부터의 파생 공정 파라미터(7)를 측정하고, 전구체 충전물(3)은 물리적 생산 설비(2)로부터 적어도 50km 떨어져 있는 전구체 생산 설비(8)에서 전구체 생산 공정을 통해서 적용된 전구체 생산 세팅(9)에 기초하여 생산되며, 전구체 충전물(3)은 물리적 생산 설비(2)로 수송되고, 분석 시스템(6)은 전구체 생산 공정으로부터의 전구체 공정 파라미터(11) 및 전구체 충전물(3)로부터의 전구체 제품 파라미터(12)를 측정하며, 분석 시스템(6)은 적용된 파생 공정 세팅(4), 측정된 파생 공정 파라미터(7), 적용된 전구체 생산 세팅(9), 측정된 전구체 공정 파라미터(11), 측정된 전구체 제품 파라미터(12)를 공정 모델(13)에 입력으로서 기입하고, 공정 모델(13)은 갱신된 파생 공정 세팅(15)을 취득하기 위해 파생 공정 세팅, 파생 공정 파라미터, 전구체 생산 세팅, 전구체 공정 파라미터 및 전구체 제품 파라미터 사이의 계산 관계를 기술하는, 방법 및 시스템에 관한 것이다.
The invention relates to a method and system wherein an analysis system (6) measures derivative process parameters (7) from the derivative physical production process, wherein the precursor charge (3) is produced at a precursor production facility (8) at least 50 km distant from the physical production facility (2) through a precursor production process based on applied precursor production settings (9), wherein the precursor charge (3) is transported to the physical production facility (2), wherein the analysis system (6) measures precursor process parameters (11) from the precursor production process and precursor product parameters (12) from the precursor charge (3), wherein the analysis system (6) enters the applied derivative process settings (4), the measured derivative process parameters (7), the applied precursor production settings (9), the measured precursor process parameters (11), the measured precursor product parameters (12) as input to a process model (13), which process model (13) describes a computational relationship between derivative process settings, derivative process parameters, precursor production settings, precursor process parameters and precursor product parameters, to obtain updated derivative process settings (15). |
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