A Multi-Position Investigating Type of an X-ray Apparatus and a Method for Investigating a Product with the Same

The present invention relates to a multipoint examination type X-ray examination apparatus and a method thereof. The X-ray examination apparatus includes: a first guide pathway (12) connected to the outside of an examination room (R) to guide an article (A) to a first examination position; at least one first examination module placed on the first examination position formed in the first guide pathway (12) to conduct an examination on at least one examination point of the article (B); at least one examination connection pathway (16a, 16b) guiding the article (B), which has completely examined in the first guide pathway (12), to a second examination position; at least one second examination module placed on the second examination position formed in the examination connection pathway (16a, 16b) to conduct an examination on at least one other examination point of the article (B); and a second guide pathway (15) connecting the outside of the examination room (R) and the second examination position. Therefore, the present invention is capable of improving the efficiency of examination by transferring and examining articles at the same time. 본 발명은 다점 검사 방식의 엑스레이 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다. 엑스레이 검사 장치는 검사실(R)의 외부와 연결되어 물품(A)을 제1 검사 위치로 유도하는 제1 유도 경로(12); 제1 유도 경로(12)에 형성된 제1 검사 위치에 배치되어 물품(B)의 적어도 하나의 검사 점에 대한 검사를 행하는 적어도 하나의 제1 검사 모듈; 제1 유도 경로(12)에서 검사가 완료된 물품(B)을 제2 검사 위치로 유도하는 적어도 하나의 검사 연결 경로(16a, 16b); 검사 연결 경로(16a, 16b)에 형성된 제2 검사 위치에 배치되어 물품(B)의 적어도 하나의 다른 검사 점에 대한 검사를 행하는 적어도 하나의 제2 검사 모듈; 및 제2 검사 위치 및 검사실(R)의 외부를 연결하는 제2 유도 경로(15)를 포함한다.