A METHOD FOR DETERMINING RISK FACTORS OF OUTLIERS OCCURRENCES A COMPUTING DEVICE AND A COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM

프로세서 및 메모리를 포함하는 컴퓨팅 디바이스에 의해 수행되는, 성공 상태 또는 실패 상태를 가지는 대상 변수의 시계열에 대한 이상치 발생의 위험 인자를 결정하는 방법이 제공된다. 방법은, 미리 결정된 시간 길이를 가지는 복수의 시간 구간들 각각에 대해, 대상 변수에 대한 복수의 속성 및 이와 같은 속성에 따른 하나 이상의 속성값 마다의 각각의 시간 구간들에서의 이상치 발생 여부를 결정하는 단계, 복수의 시간 구간들에서, 복수의 속성 중 제 1 속성에 대한 속성값 중 어느 하나인 제 1 속성값에 기반하는 이상치 발생 여부 결정이 제...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	KIM HUI CHEOL, CHOE WON GYU, CHOI EUN HYUK, YUN SE EUN, NA SANG SEON, JUN DA EUN, OH SEOK GEUN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING PHYSICS SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Beschreibung
Zusammenfassung:	프로세서 및 메모리를 포함하는 컴퓨팅 디바이스에 의해 수행되는, 성공 상태 또는 실패 상태를 가지는 대상 변수의 시계열에 대한 이상치 발생의 위험 인자를 결정하는 방법이 제공된다. 방법은, 미리 결정된 시간 길이를 가지는 복수의 시간 구간들 각각에 대해, 대상 변수에 대한 복수의 속성 및 이와 같은 속성에 따른 하나 이상의 속성값 마다의 각각의 시간 구간들에서의 이상치 발생 여부를 결정하는 단계, 복수의 시간 구간들에서, 복수의 속성 중 제 1 속성에 대한 속성값 중 어느 하나인 제 1 속성값에 기반하는 이상치 발생 여부 결정이 제 2 속성에 대한 속성값 중 어느 하나인 제 3 속성값에 기반하는 이상치 발생 여부 결정과 일치하는 정도를 기반으로 제 1 속성값 및 제 3 속성값을 속성값 조합으로 결정하는 단계와, 결정된 속성값 조합을 상기 위험 인자로 결정하는 단계를 포함한다.