센서 교정
교정 프로세스에서 변화하는 작동 환경 내 제1 센서를 교정하기 위한 방법 및 장치가 개시된다. 센서 데이터가 상기 제1 센서로부터 수신되고 알려진 교정 센서로부터 센서 값이 수신된다. 센서 특정 모델은 상기 제1 센서에 대하여 유지된다. 교정 요구가 알려진 교정 센서에 대한 센서 값의 차이를 고려하여 그리고 상기 제1 센서의 센서 프로필을 추가로 고려하여 드리프트 및 오류를 추정함으로써 감지된다. 상기 차이를 이용하여 상기 센서 데이터에 대해 보정 계수 또는 보정 모델이 추정된다. 상기 보정 계수 또는 보정 모델은 상기 센서 특정...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 교정 프로세스에서 변화하는 작동 환경 내 제1 센서를 교정하기 위한 방법 및 장치가 개시된다. 센서 데이터가 상기 제1 센서로부터 수신되고 알려진 교정 센서로부터 센서 값이 수신된다. 센서 특정 모델은 상기 제1 센서에 대하여 유지된다. 교정 요구가 알려진 교정 센서에 대한 센서 값의 차이를 고려하여 그리고 상기 제1 센서의 센서 프로필을 추가로 고려하여 드리프트 및 오류를 추정함으로써 감지된다. 상기 차이를 이용하여 상기 센서 데이터에 대해 보정 계수 또는 보정 모델이 추정된다. 상기 보정 계수 또는 보정 모델은 상기 센서 특정 모델로부터 파생된다.
A method and apparatus are disclosed for calibrating a first sensor in a changing operating environment by a calibration process. Sensor data are received from the first sensor and sensor values are received from a known calibrating sensor. A sensor specific model is maintained for the first sensor. Calibration needs are detected by estimating a drift and an error, taking into account a difference of sensor values to the known calibrating sensor and further taking into account a sensor profile of the first sensor. A correction factor or a correction model is estimated to the sensor data using said difference and used for calibrating the sensor. The correction factor or the correction model is derived from the sensor specific model. |
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