LIGHT INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING LIGHT EMITTING PACKAGE USING THE SAME

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 광원부, 검출부, 비전부 및 광학부를 포함하는 광 검사기가 제공된다. 광원부는 보조광을 방출한다. 검출부는 발광 패키지의 파장 변환부에서 방출된 광의 광 특성값을 검출한다. 비전부는 광을 방출하는 발광 패키지의 위치를 확인한다. 또한, 광학부는 보조광을 발광 패키지로 유도하고, 파장 변환부에서 방출된 광을 검출부 및 비전부로 유도한다. 여기서, 광학부는 제1 광원 유닛 및 제2 광원 유닛을 포함한다. 제1 광원 유닛은 보조광을 발광 패키지의 파장 변환부에 수직으로 조사되도록 유도한다. 또한, 제2...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	LEE YOUNG JU, KIM HYEONGON, LEE TAE SEUNG
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명의 일 실시 예에 따르면, 광원부, 검출부, 비전부 및 광학부를 포함하는 광 검사기가 제공된다. 광원부는 보조광을 방출한다. 검출부는 발광 패키지의 파장 변환부에서 방출된 광의 광 특성값을 검출한다. 비전부는 광을 방출하는 발광 패키지의 위치를 확인한다. 또한, 광학부는 보조광을 발광 패키지로 유도하고, 파장 변환부에서 방출된 광을 검출부 및 비전부로 유도한다. 여기서, 광학부는 제1 광원 유닛 및 제2 광원 유닛을 포함한다. 제1 광원 유닛은 보조광을 발광 패키지의 파장 변환부에 수직으로 조사되도록 유도한다. 또한, 제2 광원 유닛은 파장 변환부에서 방출된 광의 일부를 비전부로 유도하고, 광의 다른 일부를 검출부로 유도하는 제2 광원 유닛을 포함한다.