Pin detecive Device

The present invention relates to a pin inspection apparatus and, more specifically, to a pin inspection apparatus capable of minimizing product defects. According to the present invention, the pin inspection apparatus comprises: a pin transfer means (20); a foreign substance removal means (56) installed on one side of the pin transfer means (20); a length inspection means (64); a taper inspection means (80); and a defective workpiece discharge means (74). 본 발명은 내부에 복수개의 가공물(P)이 안착되고, 승강동작에 따라 복수개의 가공물(P)을 일정한 거리 만큼 순차적으로 이동시키는 핀이송수단(20)과; 상기 핀이송수단(20)의 일측에 설치되며, 가공물(P)의 내부에 관통 삽입되어 관통홀(H) 내부의 잔존 이물질을 제거하는 이물질제거수단(56)과; 상기 핀이송수단(20)의 일측에 설치되며, 전후로 이동가능하게 설치되고, 가공물(P)의 끝단에 밀착되어 가공물(P)의 길이를 측정하는 길이검사수단(64)과; 상기 핀이송수단(20)의 일측에 설치되며, 전후로 이동가능하게 설치되고, 가공물(P)의 테이퍼부(T)에 밀착되어 가공물(P)의 테이퍼 각도를 측정하는 테이퍼검사수단(80)과; 상기 길이검사수단(64)과 상기 테이퍼검사수단(80)의 일측에 설치되며, 전후로 이동가능하게 설치되어 상기 길이검사수단(64)과 상기 테이퍼검사수단(80)의 측정 결과에 따라 가공물(P)을 불량배출관(50)측으로 선택적으로 밀어내는 불량배출수단(74);을 포함하는 핀 검사장치에 관한 것이다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 핀이송수단을 따라 순차적이며 연속적으로 이송되는 가공물의 길이 및 테이퍼부를 실시간으로 검사하여 불량유무를 판단함에 따라 가공물의 불량에 따른 제품불량을 최소화 할 수 있으며, 다량의 가공물을 빠른 시간내에 신속하게 검사할 수 있는 효과가 있다. 또한, 별도의 불량배출수단이 추가적으로 설치되어 길이검사수단 및 테이퍼검사수단에 검사 결과에 따라 불량 판정된 가공물이 자동으로 배출됨에 검사 효율성이 향상되는 이점이 있다.