CALIBRATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR APPARATUS INCLUDING THE CALIBRATION CIRCUIT

Provided is a calibration circuit, which may include a reference resistance leg, a calibration code generation circuit, and an emphasis circuit. The reference resistance leg is connected to the external reference resistance through a reference resistance node, and a voltage level of the reference resistance node may be changed based on a calibration code. The calibration code generation circuit may generate a voltage detection signal and the calibration code by comparing the voltage level of the reference resistance node with a reference voltage. The emphasis circuit may accelerate the voltage level change of the reference resistance node when the reference resistance leg changes the voltage level of the reference resistance node based on the calibration code. 캘리브레이션 회로는 기준 저항 레그, 캘리브레이션 코드 생성 회로 및 엠파시스 회로를 포함할 수 있다. 상기 기준 저항 레그는 기준 저항 노드를 통해 상기 외부 기준 저항과 연결되고, 캘리브레이션 코드에 기초하여 상기 기준 저항 노드의 전압 레벨을 변화시킬 수 있다. 상기 캘리브레이션 코드 생성 회로는 상기 기준 저항 노드의 전압 레벨과 기준 전압을 비교하여 전압 감지 신호 및 상기 캘리브레이션 코드를 생성할 수 있다. 상기 엠파시스 회로는 상기 캘리브레이션 코드에 기초하여 상기 기준 저항 레그가 상기 기준 저항 노드의 전압 레벨이 변화시킬 때 상기 기준 저항 노드의 전압 레벨 변화를 가속시킬 수 있다.