APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT

Disclosed are an apparatus and a method for detecting a defect. The apparatus for detecting a defect according to one embodiment includes: a first region of interest extraction unit for extracting a region including the object into a first region of interest with respect to each of a plurality of images for an object; a second region of interest extraction unit for extracting one or more second region of interest within the first region of interest of each of the plurality of images; a defect detection result obtaining unit for obtaining a defect detection result for each of the second region of interest using a defect detection model; an image determination unit for determining a key frame image and a plurality of surrounding frame images among the plurality of images, based on the defect detection result for the second region of interest of each of the plurality of images; a third region of interest extraction unit for extracting a third region of interest for each of the plurality of surrounding frame images by using a position difference between an object included in the key frame image and an object included in each of the plurality of surrounding frame images and by using location information on a second region of interest of the key frame image; and a defect region determination unit for determining a defect region in the key frame image based on a defect detection result for the third region of interest. 결함 검출 장치 및 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 결함 검출 장치는, 객체에 대한 복수의 이미지 각각에 대하여 상기 객체를 포함하고 있는 영역을 제1 관심 영역으로 추출하는 제1 관심 영역 추출부, 상기 복수의 이미지 각각의 제1 관심 영역 내에서 하나 이상의 제2 관심 영역을 추출하는 제2 관심 영역 추출부, 결함 검출 모델을 이용하여 상기 제2 관심 영역 각각에 대한 결함 검출 결과를 획득하는 결함 검출 결과 획득부, 상기 복수의 이미지 각각의 제2 관심 영역에 대한 결함 검출 결과에 기초하여 상기 복수의 이미지 중 키 프레임 이미지 및 복수의 주변 프레임 이미지를 결정하는 이미지 결정부, 상기 키 프레임 이미지에 포함된 객체와 상기 복수의 주변 프레임 이미지 각각에 포함된 객체 사이의 위치 차이 및 상기 키 프레임 이미지의 제2 관심 영역에 대한 위치 정보를 이용하여 상기 복수의 주변 프레임 이미지 각각에 대한 제3 관심 영역을 추출하는 제3 관심 영역 추출부 및 상기 제3 관심 영역에 대한 결함 검출 결과에 기초하여 상기 키 프레임 이미지에서 결함 영역을 결정한다.