FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS

저저항의 금속 질화막을 형성할 수 있는 기술을 제공한다. 본 개시의 일 양태에 따른 성막 방법은, 기판을 수용하는 처리 용기 내에 금속 함유 가스를 공급하는 제1 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제2 공정과, 상기 처리 용기 내에 질소 함유 가스를 공급하는 제3 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제4 공정을 소정 사이클 반복하여, 상기 기판 상에 금속 질화막을 형성하는 성막 방법이며, 상기 제4 공정은, 상기 제1 공정의 상기 금속 함유 가스의 유량 이상의 제1 유량의 제1 퍼지 가스를 공급하는...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: YAMAZAKI KAZUYOSHI, NAKAMURA HIDEO, IDENO YOSHIKAZU, TAKAHASHI TSUYOSHI
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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creator YAMAZAKI KAZUYOSHI
NAKAMURA HIDEO
IDENO YOSHIKAZU
TAKAHASHI TSUYOSHI
description 저저항의 금속 질화막을 형성할 수 있는 기술을 제공한다. 본 개시의 일 양태에 따른 성막 방법은, 기판을 수용하는 처리 용기 내에 금속 함유 가스를 공급하는 제1 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제2 공정과, 상기 처리 용기 내에 질소 함유 가스를 공급하는 제3 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제4 공정을 소정 사이클 반복하여, 상기 기판 상에 금속 질화막을 형성하는 성막 방법이며, 상기 제4 공정은, 상기 제1 공정의 상기 금속 함유 가스의 유량 이상의 제1 유량의 제1 퍼지 가스를 공급하는 제1 스텝과, 상기 제1 유량보다 작은 제2 유량의 상기 제1 퍼지 가스를 공급하거나, 또는 상기 제1 퍼지 가스를 공급하지 않는 제2 스텝을 갖는다. A film-forming method for forming a metal nitride film on a substrate includes: forming the metal nitride film on the substrate by repeating a cycle a predetermined number of times, the cycle including: a first process of supplying a metal-containing gas into a process container configured to accommodate the substrate therein; a second process of supplying a purge gas into the process container; a third process of supplying a nitrogen-containing gas into the process container; and a fourth process of supplying the purge gas into the process container, wherein the fourth process includes: a first step of supplying a first purge gas having a first flow rate equal to or larger than a flow rate of the metal-containing gas of the first process; and a second step of supplying the first purge gas having a second flow rate smaller than the first flow rate.
format Patent
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A film-forming method for forming a metal nitride film on a substrate includes: forming the metal nitride film on the substrate by repeating a cycle a predetermined number of times, the cycle including: a first process of supplying a metal-containing gas into a process container configured to accommodate the substrate therein; a second process of supplying a purge gas into the process container; a third process of supplying a nitrogen-containing gas into the process container; and a fourth process of supplying the purge gas into the process container, wherein the fourth process includes: a first step of supplying a first purge gas having a first flow rate equal to or larger than a flow rate of the metal-containing gas of the first process; and a second step of supplying the first purge gas having a second flow rate smaller than the first flow rate.</description><language>eng ; kor</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200226&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20200020606A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200226&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20200020606A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>YAMAZAKI KAZUYOSHI</creatorcontrib><creatorcontrib>NAKAMURA HIDEO</creatorcontrib><creatorcontrib>IDENO YOSHIKAZU</creatorcontrib><creatorcontrib>TAKAHASHI TSUYOSHI</creatorcontrib><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><description>저저항의 금속 질화막을 형성할 수 있는 기술을 제공한다. 본 개시의 일 양태에 따른 성막 방법은, 기판을 수용하는 처리 용기 내에 금속 함유 가스를 공급하는 제1 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제2 공정과, 상기 처리 용기 내에 질소 함유 가스를 공급하는 제3 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제4 공정을 소정 사이클 반복하여, 상기 기판 상에 금속 질화막을 형성하는 성막 방법이며, 상기 제4 공정은, 상기 제1 공정의 상기 금속 함유 가스의 유량 이상의 제1 유량의 제1 퍼지 가스를 공급하는 제1 스텝과, 상기 제1 유량보다 작은 제2 유량의 상기 제1 퍼지 가스를 공급하거나, 또는 상기 제1 퍼지 가스를 공급하지 않는 제2 스텝을 갖는다. A film-forming method for forming a metal nitride film on a substrate includes: forming the metal nitride film on the substrate by repeating a cycle a predetermined number of times, the cycle including: a first process of supplying a metal-containing gas into a process container configured to accommodate the substrate therein; a second process of supplying a purge gas into the process container; a third process of supplying a nitrogen-containing gas into the process container; and a fourth process of supplying the purge gas into the process container, wherein the fourth process includes: a first step of supplying a first purge gas having a first flow rate equal to or larger than a flow rate of the metal-containing gas of the first process; and a second step of supplying the first purge gas having a second flow rate smaller than the first flow rate.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNBz8_Tx1XXzD_L19HNX8HUN8fB3UXD0c1FAEXcMCHAMcgwJDeZhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHeQUYGRgYGQGxmYOZoTJwqAGmWJmg</recordid><startdate>20200226</startdate><enddate>20200226</enddate><creator>YAMAZAKI KAZUYOSHI</creator><creator>NAKAMURA HIDEO</creator><creator>IDENO YOSHIKAZU</creator><creator>TAKAHASHI TSUYOSHI</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200226</creationdate><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><author>YAMAZAKI KAZUYOSHI ; NAKAMURA HIDEO ; IDENO YOSHIKAZU ; TAKAHASHI TSUYOSHI</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20200020606A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2020</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>YAMAZAKI KAZUYOSHI</creatorcontrib><creatorcontrib>NAKAMURA HIDEO</creatorcontrib><creatorcontrib>IDENO YOSHIKAZU</creatorcontrib><creatorcontrib>TAKAHASHI TSUYOSHI</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>YAMAZAKI KAZUYOSHI</au><au>NAKAMURA HIDEO</au><au>IDENO YOSHIKAZU</au><au>TAKAHASHI TSUYOSHI</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><date>2020-02-26</date><risdate>2020</risdate><abstract>저저항의 금속 질화막을 형성할 수 있는 기술을 제공한다. 본 개시의 일 양태에 따른 성막 방법은, 기판을 수용하는 처리 용기 내에 금속 함유 가스를 공급하는 제1 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제2 공정과, 상기 처리 용기 내에 질소 함유 가스를 공급하는 제3 공정과, 상기 처리 용기 내에 퍼지 가스를 공급하는 제4 공정을 소정 사이클 반복하여, 상기 기판 상에 금속 질화막을 형성하는 성막 방법이며, 상기 제4 공정은, 상기 제1 공정의 상기 금속 함유 가스의 유량 이상의 제1 유량의 제1 퍼지 가스를 공급하는 제1 스텝과, 상기 제1 유량보다 작은 제2 유량의 상기 제1 퍼지 가스를 공급하거나, 또는 상기 제1 퍼지 가스를 공급하지 않는 제2 스텝을 갖는다. A film-forming method for forming a metal nitride film on a substrate includes: forming the metal nitride film on the substrate by repeating a cycle a predetermined number of times, the cycle including: a first process of supplying a metal-containing gas into a process container configured to accommodate the substrate therein; a second process of supplying a purge gas into the process container; a third process of supplying a nitrogen-containing gas into the process container; and a fourth process of supplying the purge gas into the process container, wherein the fourth process includes: a first step of supplying a first purge gas having a first flow rate equal to or larger than a flow rate of the metal-containing gas of the first process; and a second step of supplying the first purge gas having a second flow rate smaller than the first flow rate.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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CHEMICAL SURFACE TREATMENT
CHEMISTRY
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL
COATING METALLIC MATERIAL
DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL
METALLURGY
SEMICONDUCTOR DEVICES
SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION
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