SYSTEM FOR DETECTING DEFECT AND METHOD FOR DETECTIING DEFECT USING THE SAME
Disclosed are a defect detection system and a defect detection method using the same. The defect detection method according to an embodiment of the present invention comprises: a step of forming a photoprint film as a photoprint unit of the defect detection system photoprints a film which is penetra...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | Disclosed are a defect detection system and a defect detection method using the same. The defect detection method according to an embodiment of the present invention comprises: a step of forming a photoprint film as a photoprint unit of the defect detection system photoprints a film which is penetrated by radiation irradiated toward a pipe while in close contact with the pipe; a step of obtaining a first image as a scan unit of the defect detection system scans the print film firstly as a whole; a step of obtaining a second image as the scan unit scans secondly a specific part requiring detection of a defect in the first image; a step of detecting the defect of the pipe through the second image by a detection unit of the defect detection system; and a step of judging whether the detected defect satisfies defect criteria previously stored in a storage unit of the defect detection system by a determination unit of the defect detection system.
결함 검출 시스템 및 이를 이용한 결함 검출 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 결함 검출 방법은, 배관에 밀착된 상태에서 배관을 향하여 조사된 방사선이 투과된 필름을 결함 검출 시스템의 인화부에서 인화함으로써 인화필름을 형성하는 단계, 결함 검출 시스템의 스캔부에서 인화필름을 전체적으로 1차 스캔하여 제 1 이미지를 수득하는 단계, 스캔부에서 제 1 이미지의 결함 검출을 필요로 하는 특정 부분을 2차 스캔하여 제 2 이미지를 수득하는 단계, 결함 검출 시스템의 검출부에서 제 2 이미지를 통해 배관의 결함을 검출하는 단계 및 검출된 결함이 결함 검출 시스템의 저장부에 기 저장된 결함 기준을 만족하는지 여부를 결함 검출 시스템의 판단부에서 판단하는 단계를 포함한다. |
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