ELECTRICAL PROBE

A current probe comprises a probe assembly and a second electrical connection. The probe assembly includes a probe shaft, a first electrical connection, a probe head, and a sub probe. The probe shaft is movably installed through a substrate. The first electrical connection is installed and electrically connected to the probe shaft. The probe head is installed on one end corresponding to the first electrical connection at the probe head and is electrically connected to the probe shaft. The probe head presses an object to be measured. The sub probe penetrates the probe head and is inserted and installed on the probe shaft. The sub probe is electrically connected to a cable and is electrically insulated from the probe shaft. The sub probe is positioned on one side of the probe shaft separated far from the first electrical connection. The second electrical connection corresponds to the first electrical connection. If the probe head presses the object to be measured to allow the probe shaft to slide the first electrical connection to position the first electrical connection at a contact position, the first electrical connection electrically comes in contact with the second electrical connection, and the probe head is electrically connected to the second electrical connection through the probe shaft. 전류 프로브는 프로브 어셈블리 및 제2 전기적 연결부를 포함한다. 프로브 어셈블리는 프로브 축, 제1 전기적 연결부, 프로브 헤드 및 서브 프로브를 포함한다. 프로브 축은 기판에 이동가능하게 관통설치된다. 제1 전기적 연결부는 프로브 축에 설치되고 전기적으로 연결된다. 프로브 헤드는 프로브 축에서 제1 전기적 연결부에 대응되는 일단에 설치되고 프로브 축에 전기적으로 연결되며 프로브 헤드는 피측정물을 누른다. 서브 프로브는 프로브 헤드를 관통하고 프로브 축에 삽입설치되며, 서브 프로브는 케이블에 전기적으로 연결되고 프로브 축과 전기적으로 절연되며, 서브 프로브는 프로브 축의 제1 전기적 연결부에서 멀리 떨어진 일측에 위치한다. 제2 전기적 연결부는 제1 전기적 연결부에 대응된다. 프로브 헤드가 피측정물을 눌러 프로브 축이 제1 전기적 연결부를 슬라이딩시켜 접촉 위치에 위치시킬 경우, 제1 전기적 연결부는 제2 전기적 연결부에 전기적으로 접촉하고 프로브 헤드는 프로브 축을 통해 제2 전기적 연결부에 전기적으로 연결된다.