X-ray Inspection Apparatus Having Constitution of Stage Discharge
The present invention relates to an X-ray inspection device of a stage discharge structure and, specifically, to an X-ray inspection device of a stage discharge structure wherein a stage in which an inspection target is located has a structure capable of being moved to the outside and inside of an i...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to an X-ray inspection device of a stage discharge structure and, specifically, to an X-ray inspection device of a stage discharge structure wherein a stage in which an inspection target is located has a structure capable of being moved to the outside and inside of an inspection room. The X-ray inspection device of the stage discharge structure comprises: an inspection room (R) in which an X-ray tube and a detector are disposed; at least one access port (P) formed on a wall of the inspection room (R); a stage (12) disposed so as to move at least a part of the inspection room (R) through the access port (P); and a shutter unit (11) capable of blocking the access port (P).
본 발명은 스테이지 배출 구조의 엑스레이 검사 장치에 관한 것이고, 구체적으로 검사 대상이 위치되는 스테이지가 검사실의 외부 및 내부로 이동이 가능한 구조를 가지는 스테이지 배출 구조의 엑스레이 검사 장치에 관한 것이다. 스테이지 배출 구조의 엑스레이 검사 장치는 엑스레이 튜브 및 디텍터가 배치된 검사실(R); 상기 검사실(R)의 벽면에 형성된 적어도 하나의 출입 포트(P); 상기 출입 포트(P)를 통하여 적어도 일부가 검사실(R)의 외부로 이동 가능하도록 배치되는 스테이지(12); 및 상기 출입 포트(P)의 차단이 가능한 셔터 유닛(11)을 포함한다. |
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