APPARATUS AND METHOD FOR ANALYSING TEST LOG

The present specification provides an apparatus and a method for analyzing test log data. The apparatus for analyzing test log data comprises: a communication unit receiving test log data; an encoding unit encoding the test log data; a log analysis unit classifying the encoded test log data based on...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: KIM HEE KON
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present specification provides an apparatus and a method for analyzing test log data. The apparatus for analyzing test log data comprises: a communication unit receiving test log data; an encoding unit encoding the test log data; a log analysis unit classifying the encoded test log data based on a log level corresponding to the test log data; and a format conversion unit outputting the classified data. The log analysis unit notifies the occurrence of an error to a registered user terminal when the occurrence of the error is sensed from the encoded test log data based on the log level. 본 명세서는 테스트 로그 데이터 분석 장치 및 방법을 제시하며, 테스트 로그 데이터를 수신하는 통신부, 테스트 로그 데이터를 인코딩하는 인코딩부, 테스트 로그 데이터에 대응되는 로그 레벨에 기초하여 인코딩된 테스트 로그 데이터를 분류하는 로그 분석부, 및 분류된 데이터를 출력하는 포맷 변환부를 포함하고, 로그 분석부는 로그 레벨에 기초하여 인코딩된 테스트 로그 데이터로부터 오류의 발생이 감지되면, 등록된 사용자 단말로 오류 발생을 통보한다.