FLEXIBLE EDDY CURRENT PROBE
플렉시블 와전류 프로브 및 이용 방법이 제공된다. 플렉시블 와전류 프로브 (300) 는 테스트 객체 (202) 의 부분의 전자기적 컨디션을 측정할 수 있는 적어도 하나의 실질적으로 평면의 와전류 어레이 (304) 를 포함하고, 여기서, 적어도 하나의 와전류 어레이 (304) 는 플렉시블 기판 (316) 상에 배치되고, 플렉시블 기판 (316) 은 테스트 객체 (202) 의 부분에 정합가능하다. 플렉시블 와전류 프로브는 적어도 하나의 와전류 어레이 (304) 를 테스트 도구에 전기적으로 연결할 수 있는 적어도 하나의 세장형 전기 도체...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | 플렉시블 와전류 프로브 및 이용 방법이 제공된다. 플렉시블 와전류 프로브 (300) 는 테스트 객체 (202) 의 부분의 전자기적 컨디션을 측정할 수 있는 적어도 하나의 실질적으로 평면의 와전류 어레이 (304) 를 포함하고, 여기서, 적어도 하나의 와전류 어레이 (304) 는 플렉시블 기판 (316) 상에 배치되고, 플렉시블 기판 (316) 은 테스트 객체 (202) 의 부분에 정합가능하다. 플렉시블 와전류 프로브는 적어도 하나의 와전류 어레이 (304) 를 테스트 도구에 전기적으로 연결할 수 있는 적어도 하나의 세장형 전기 도체 (312) 와, 오퍼레이터의 손에 끼워질 수 있고, 와전류 어레이 (304) 를 운반할 수 있으며 테스트 객체 (202) 와의 통신을 테스트함에 있어서 어레이를 정합시킬 수 있는 장갑 (402) 을 포함한다.
A flexible eddy current probe and a method of use are provided. A flexible eddy current probe (300) includes at least one substantially planar eddy current array (304) capable of measuring an electromagnetic condition of a portion of a test object (202), wherein the at least one eddy current array (304) is disposed on a flexible substrate (316), and wherein the flexible substrate (316) is conformable to a portion of the test object (202). The flexible eddy current probe includes at least one elongated electrical conductor (312) capable of electrically connecting the at least one eddy current array (304) to a test instrument, and a glove (402) capable of being fitted to an operator's hand and capable of carrying the eddy current array (304) and conforming the array in testing communication with the test object (202). |
---|