METHOD AND DEVICE FOR DEFECT TRACKING

Embodiments disclosed in the present application relate to a method and device for detecting a defect and, more specifically, to a method and device for detecting a defect facilitating correction of a defect by visualizing occurrence of a defect according to a category of a defect detected in a sour...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: SHIN, SEUNG CHEOL
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:Embodiments disclosed in the present application relate to a method and device for detecting a defect and, more specifically, to a method and device for detecting a defect facilitating correction of a defect by visualizing occurrence of a defect according to a category of a defect detected in a source code. As a technical means for achieving a technical objective, according to one embodiment of the present application, the method performed by the device comprises the steps of: generating a control flowchart based on a source code to be analyzed; analyzing the source code to detect a defect; analyzing the defect to determine a category of the defect; and generating a trace graph for the defect based on the category and the control flowchart. 본 명세서에서 개시되는 실시예들은 결함 추적 방법 및 결함 추적 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소스코드에서 탐지된 결함의 카테고리에 따라 결함의 발생 과정을 시각화하여 결함의 수정을 용이하게 하는 결함 추적 방법 및 결함 추적 장치에 관한 것이다. 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 일 실시예에 따르면, 결함 추적 장치가 수행하는 결함 추적 방법으로서, 분석의 대상인 소스코드에 기초하여 제어 흐름도를 생성하는 단계; 상기 소스코드를 분석하여 결함을 검출하는 단계; 상기 결함을 분석하여 상기 결함의 카테고리를 판단하는 단계; 및 상기 카테고리 및 상기 제어 흐름도에 기초하여 상기 결함에 대한 추적 그래프를 생성하는 단계를 포함하는 결함 추적 방법이 개시된다.