SYSTEM FOR TESTING CAPACITOR
Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a curren...
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Format: | Patent |
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creator | KIM, HO SUNG KIM, TAE JIN PARK, JUNG WOO BEAK, JU WON LEE, JONG PIL |
description | Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a current of the capacitor; and a current chopping unit included in the charging and discharging unit, and chopping the current applied to the capacitor with a preset pattern. According to the described configuration, a pattern of the current applied to the capacitor can be randomly provided, thereby applying actual stress to the capacitor when a system operates. Therefore, the reliability of a test target capacitor can be secured.
커패시터 검사 시스템이 개시된다. 커패시터 검사 시스템은, 전원 공급부, 충방전부, 데이터 측정부, 및 전류 쵸핑부를 포함한다. 전원 공급부는 미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하고, 충방전부는 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하며, 데이터 측정부는 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함한다. 이때, 충방전부는 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함한다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터에 인가되는 전류의 패턴을 임의로 줄 수 있어, 커패시터에 시스템 동작시의 실제 스트레스를 인가할 수 있게 되고, 이로 인해 검사 대상 커패시터의 신뢰도를 보장할 수 있게 된다. |
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커패시터 검사 시스템이 개시된다. 커패시터 검사 시스템은, 전원 공급부, 충방전부, 데이터 측정부, 및 전류 쵸핑부를 포함한다. 전원 공급부는 미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하고, 충방전부는 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하며, 데이터 측정부는 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함한다. 이때, 충방전부는 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함한다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터에 인가되는 전류의 패턴을 임의로 줄 수 있어, 커패시터에 시스템 동작시의 실제 스트레스를 인가할 수 있게 되고, 이로 인해 검사 대상 커패시터의 신뢰도를 보장할 수 있게 된다.</description><language>eng ; kor</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20180416&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20180038168A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20180416&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20180038168A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KIM, HO SUNG</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, TAE JIN</creatorcontrib><creatorcontrib>PARK, JUNG WOO</creatorcontrib><creatorcontrib>BEAK, JU WON</creatorcontrib><creatorcontrib>LEE, JONG PIL</creatorcontrib><title>SYSTEM FOR TESTING CAPACITOR</title><description>Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a current of the capacitor; and a current chopping unit included in the charging and discharging unit, and chopping the current applied to the capacitor with a preset pattern. According to the described configuration, a pattern of the current applied to the capacitor can be randomly provided, thereby applying actual stress to the capacitor when a system operates. Therefore, the reliability of a test target capacitor can be secured.
커패시터 검사 시스템이 개시된다. 커패시터 검사 시스템은, 전원 공급부, 충방전부, 데이터 측정부, 및 전류 쵸핑부를 포함한다. 전원 공급부는 미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하고, 충방전부는 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하며, 데이터 측정부는 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함한다. 이때, 충방전부는 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함한다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터에 인가되는 전류의 패턴을 임의로 줄 수 있어, 커패시터에 시스템 동작시의 실제 스트레스를 인가할 수 있게 되고, 이로 인해 검사 대상 커패시터의 신뢰도를 보장할 수 있게 된다.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZJAJjgwOcfVVcPMPUghxDQ7x9HNXcHYMcHT2DPEP4mFgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8d5BRgaGFgYGxhaGZhaOxsSpAgD_ICHJ</recordid><startdate>20180416</startdate><enddate>20180416</enddate><creator>KIM, HO SUNG</creator><creator>KIM, TAE JIN</creator><creator>PARK, JUNG WOO</creator><creator>BEAK, JU WON</creator><creator>LEE, JONG PIL</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20180416</creationdate><title>SYSTEM FOR TESTING CAPACITOR</title><author>KIM, HO SUNG ; KIM, TAE JIN ; PARK, JUNG WOO ; BEAK, JU WON ; LEE, JONG PIL</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20180038168A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2018</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KIM, HO SUNG</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, TAE JIN</creatorcontrib><creatorcontrib>PARK, JUNG WOO</creatorcontrib><creatorcontrib>BEAK, JU WON</creatorcontrib><creatorcontrib>LEE, JONG PIL</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KIM, HO SUNG</au><au>KIM, TAE JIN</au><au>PARK, JUNG WOO</au><au>BEAK, JU WON</au><au>LEE, JONG PIL</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEM FOR TESTING CAPACITOR</title><date>2018-04-16</date><risdate>2018</risdate><abstract>Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a current of the capacitor; and a current chopping unit included in the charging and discharging unit, and chopping the current applied to the capacitor with a preset pattern. According to the described configuration, a pattern of the current applied to the capacitor can be randomly provided, thereby applying actual stress to the capacitor when a system operates. Therefore, the reliability of a test target capacitor can be secured.
커패시터 검사 시스템이 개시된다. 커패시터 검사 시스템은, 전원 공급부, 충방전부, 데이터 측정부, 및 전류 쵸핑부를 포함한다. 전원 공급부는 미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하고, 충방전부는 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하며, 데이터 측정부는 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함한다. 이때, 충방전부는 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함한다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터에 인가되는 전류의 패턴을 임의로 줄 수 있어, 커패시터에 시스템 동작시의 실제 스트레스를 인가할 수 있게 되고, 이로 인해 검사 대상 커패시터의 신뢰도를 보장할 수 있게 된다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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