SYSTEM FOR TESTING CAPACITOR

Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a curren...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KIM, HO SUNG, KIM, TAE JIN, PARK, JUNG WOO, BEAK, JU WON, LEE, JONG PIL
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:Disclosed is a capacitor testing system which comprises: a power supply unit for supplying a current with a preset size and a preset shape; a charging and discharging unit for charging and discharging a capacitor by using an applied current; a data measuring unit for measuring a voltage and a current of the capacitor; and a current chopping unit included in the charging and discharging unit, and chopping the current applied to the capacitor with a preset pattern. According to the described configuration, a pattern of the current applied to the capacitor can be randomly provided, thereby applying actual stress to the capacitor when a system operates. Therefore, the reliability of a test target capacitor can be secured. 커패시터 검사 시스템이 개시된다. 커패시터 검사 시스템은, 전원 공급부, 충방전부, 데이터 측정부, 및 전류 쵸핑부를 포함한다. 전원 공급부는 미리 설정된 크기와 형태의 전류를 공급하고, 충방전부는 인가된 전류를 이용하여 커패시터를 충방전하며, 데이터 측정부는 커패시터의 전압 및 전류를 측정하는 데이터 측정부를 포함한다. 이때, 충방전부는 커패시터에 인가되는 전류를 미리 설정된 패턴으로 쵸핑하는 전류 쵸핑부를 포함한다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터에 인가되는 전류의 패턴을 임의로 줄 수 있어, 커패시터에 시스템 동작시의 실제 스트레스를 인가할 수 있게 되고, 이로 인해 검사 대상 커패시터의 신뢰도를 보장할 수 있게 된다.