기준 방식들에서의 측정 시간 분포

기준 방식들에 대한 측정 시간 분포(1276, 1277, 1278)를 위한 방법들 및 시스템들이 개시된다. 개시된 방법들 및 시스템들은 샘플 신호, 기준 신호, 잡음 레벨들 및 SNR에 기초하여 측정 시간 분포를 동적으로 변화시킬 수 있다. 방법들 및 시스템들은 샘플 측정 상태(1282), 기준 측정 상태(1284) 및 다크 측정 상태(1286)를 포함하는 복수의 측정 상태들로 구성된다. 일부 예들에서, 측정 시간 분포 방식은 동작 파장, 샘플링 인터페이스에서의 측정 위치 및/또는 타겟팅된 SNR에 기초할 수 있다. 본 개시내용의 예들은 상이한 측정 상태들을 동시에 측정하기 위한 시스템들 및 방법들을 더 포함한다. 또한, 시스템들 및 방법들은 SNR을 감소시킬 수 있는 상관해제된 잡음 변동들을 제거 또는 감소시키기 위해 고주파수 검출기를 포함할 수 있다. Methods and systems for measurement time distribution for referencing schemes are disclosed. The disclosed methods and systems can be capable of dynamically changing the measurement time distribution based on the sample signal, reference signal, noise levels, and SNR. The methods and systems can be configured with a plurality of measurement states, including a sample measurement state, reference measurement state, and dark measurement state. In some examples, the measurement time distribution scheme can be based on the operating wavelength, the measurement location at the sampling interface, and/or targeted SNR. Examples of the disclosure further include systems and methods for measuring the different measurement states concurrently. Moreover, the systems and methods can include a high-frequency detector to eliminate or reduce decorrelated noise fluctuations that can lower the SNR.