SYSTEMS AND METHODS FOR PERFORMING MEASUREMENTS OF ONE OR MORE MATERIALS
Systems and methods for performing measurements of one or more materials are provided. One of the systems is configured to transfer one or more materials to an imaging volume of a measurement device from one or more storage vessels. Another system is configured to image one or more materials in an i...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , , , , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Systems and methods for performing measurements of one or more materials are provided. One of the systems is configured to transfer one or more materials to an imaging volume of a measurement device from one or more storage vessels. Another system is configured to image one or more materials in an imaging volume of a measurement device. Moreover, an additional system is configured to substantially immobilize one or more materials in an imaging volume of a measurement device. A further system is configured to transfer one or more materials to an imaging volume of a measurement device from one or more storage vessels, to image the one or more materials in the imaging volume, to substantially immobilize the one or more materials in the imaging volume, or some combination thereof.
하나 이상의 재료의 측정을 수행하기 위한 시스템들 및 방법들이 제공된다. 이중 하나의 시스템은 하나 이상의 저장 배젤들에서 측정 장치의 이미징 볼륨으로 하나 이상의 재료들을 전송하도록 구성된다. 다른 시스템은 측정장치의 이미징 볼륨내의 하나 이상의 재료를 이미징하도록 구성된다. 또한 추가적인 시스템은 측정장치의 이미징 볼륨내의 하나 이상의 재료들을 주로(substantially) 고정하도록 구성된다. 또 다른 시스템은 하나 이상의 저장 배젤들에서 측정장치의 이미징 볼륨으로 하나 이상의 재료를 상기 이미징 볼륨내의 상기 하나 이상의 재료들을 이미징하기 위하여, 상기 이미징 볼륨내의 상기 하나 이상의 재료들을 주로 고정하기 위하여 또는 그 들의 조합을 위하여 전송하도록 구성된다. |
---|