STORAGE DEVICE TEST SYSTEM FOR TESTING THE SAME AND METHOD THEREOF

According to the present invention, a method of a test system includes: a step of issuing a command in a test program; a step of generating a plurality of commands corresponding to the command in a device driver; and a step of simultaneously transmitting the commands to a multi-port of each storage device. The storage device of the present invention can improve a data transfer rate by efficiently performing Write and Read operations using a plurality of ports and test efficiency by reducing test time when a quantitative test is performed. 본 발명에 따른 테스트 시스템의 방법은, 테스트 프로그램에서 커맨드를 발행하는 단계, 디바이스 드라이버에서 상기 커맨드에 대응하는 복수의 커맨드들을 발생하는 단계, 및 상기 저장 장치들의 각각의 상기 멀티 포트로 상기 복수의 커맨드들을 동시에 전송하는 단계를 포함할 수 있다. 본 발명의 저장 장치는 다수의 Port를 이용한 Write/Read를 효율적으로 수행함으로써 데이터 전송속도를 향상시키고, 정량적인 테스트 진행 시 테스트 시간을 감소시킴으로써 테스트 효율성을 향상시킬 수 있다.