SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR SYSTEM
반도체시스템은 제1 및 제2 테스트신호를 출력하고, 제1 및 제2 스트로브신호를 출력하며, 데이터를 입출력하는 제1 반도체장치 및 상기 제1 및 제2 테스트신호에 응답하여 제1 구간 동안 상기 제1 스트로브신호의 레벨을 기 설정레벨로 조절하고, 제2 구간 동안 상기 제1 스트로브신호의 스윙폭을 조절하며, 상기 제2 구간 동안 상기 제1 스트로브신호와 상기 제2 스트로브신호를 비교하여 생성되는 내부스트로브신호에 동기되어 상기 데이터를 입출력하는 제2 반도체장치를 포함한다. A semiconductor device may be prov...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
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| Zusammenfassung: | 반도체시스템은 제1 및 제2 테스트신호를 출력하고, 제1 및 제2 스트로브신호를 출력하며, 데이터를 입출력하는 제1 반도체장치 및 상기 제1 및 제2 테스트신호에 응답하여 제1 구간 동안 상기 제1 스트로브신호의 레벨을 기 설정레벨로 조절하고, 제2 구간 동안 상기 제1 스트로브신호의 스윙폭을 조절하며, 상기 제2 구간 동안 상기 제1 스트로브신호와 상기 제2 스트로브신호를 비교하여 생성되는 내부스트로브신호에 동기되어 상기 데이터를 입출력하는 제2 반도체장치를 포함한다.
A semiconductor device may be provided. The semiconductor device may be configured to adjust a level of a first strobe signal to a predetermined level during a first time period. The semiconductor device may be configured to adjust a swing width of the first strobe signal during a second time period. |
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