CONTACT FLATNESS MEASUREMENT DEVICE

본원발명은 제1 프레임; 상기 제1 프레임의 일단부에, 일축을 중심으로 회전 가능하게 연결되는 제2 프레임; 측정면의 제1 부분 상에서 상기 제1 프레임을 지지하도록, 상기 제1 프레임의 하부에서 적어도 일부가 돌출되도록 형성되는 스탠드들이 상기 일축과 교차하는 방향을 따라 서로 이격되게 적어도 2 개 이상 형성되어서 구비되는 제1 지지부; 상기 측정면의 제2 부분 상에서 상기 제2 프레임을 지지하도록, 상기 제2 프레임의 하부에서 적어도 일부가 돌출되도록 형성되는 스탠드들이 상기 일축과 교차하는 방향을 따라 서로 이격되게 적어도...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	SHIN, SEONG BEOM, KO, JI HUN, KIM, YOUNG JOON, KIM, HEE JUNG
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	ALARM SYSTEMS ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ORDER TELEGRAPHS PHYSICS SIGNALLING SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본원발명은 제1 프레임; 상기 제1 프레임의 일단부에, 일축을 중심으로 회전 가능하게 연결되는 제2 프레임; 측정면의 제1 부분 상에서 상기 제1 프레임을 지지하도록, 상기 제1 프레임의 하부에서 적어도 일부가 돌출되도록 형성되는 스탠드들이 상기 일축과 교차하는 방향을 따라 서로 이격되게 적어도 2 개 이상 형성되어서 구비되는 제1 지지부; 상기 측정면의 제2 부분 상에서 상기 제2 프레임을 지지하도록, 상기 제2 프레임의 하부에서 적어도 일부가 돌출되도록 형성되는 스탠드들이 상기 일축과 교차하는 방향을 따라 서로 이격되게 적어도 2 개 이상 형성되어서 구비되는 제2 지지부; 및 상기 측정면의 평면도를 측정하기 위하여, 상기 제1 프레임에 대한 상기 제2 프레임의 회전각을 감지하는 회전각 측정 센서를 포함하는 접촉식 평면도 측정 장치를 제공한다. 본원발명에 의하면, 측정면에 직접 접촉하는 방식의 구성을 가짐으로써 간단한 구조를 가지고, 견고하며, 저렴한 비용으로 생산이 가능한 접촉식 평면도 측정 장치를 제공할 수 있다.