ETCHING COMPOSITIONS AND METHODS FOR USING SAME
본 발명은 약 25 내지 86 중량%의 물; 약 0 내지 약 60 중량%의 수혼화성 유기 용매; 약 1 내지 약 30 중량%의 4차 암모늄 화합물을 포함하는 염기; 약 1 내지 약 50 중량%의 2차 아민, 3차 아민, 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택된 아민 화합물; 약 0 내지 약 5 중량%의 완충제; 약 0 내지 약 15 중량%의 부식 억제제를 포함하는, 반도체 기판을 에칭시키기 위해 유용한 조성물 및 이러한 조성물을 사용하는 방법에 관한 것이다. A composition and method using same us...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 본 발명은 약 25 내지 86 중량%의 물; 약 0 내지 약 60 중량%의 수혼화성 유기 용매; 약 1 내지 약 30 중량%의 4차 암모늄 화합물을 포함하는 염기; 약 1 내지 약 50 중량%의 2차 아민, 3차 아민, 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택된 아민 화합물; 약 0 내지 약 5 중량%의 완충제; 약 0 내지 약 15 중량%의 부식 억제제를 포함하는, 반도체 기판을 에칭시키기 위해 유용한 조성물 및 이러한 조성물을 사용하는 방법에 관한 것이다.
A composition and method using same useful for etching a semiconductor substrate comprising: from about 25 to 86% by weight of water; from about 0 to about 60% by weight of a water-miscible organic solvent; from about 1 to about 30% by weight of a base comprising a quartenary ammonium compound; from about 1 to about 50% by weight of an amine compound wherein the amine compound is selected from the group consisting of a secondary amine, a tertiary amine, and mixtures thereof; from about 0 to about 5% by weight of a buffering agent; from about 0 to about 15% by weight of a corrosion inhibitor. |
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