SYSTEM FOR INSPECTING SEALER SPREAD USING MACHINE VISION TECHNIQUE

소정 영역에 도포된 실러의 화상 이미지를 검사 영상으로서 얻기 위한 비전 검사용 카메라; 및 비전 검사용 카메라로부터 얻어진 검사 영상에 대해서 이미지 처리를 위한 이미지 처리부;를 포함하며, 이미지 처리부는 얻어진 검사 영상에 대해서, 실러 도포 판정은, 제 1 알고리즘으로서, 제 1 도포 상태를 갖는 복수의 화상 이미지를 획득하는 단계; 획득된 복수의 화상 이미지에 대해서 실러 도포 상태를 학습하는 단계; 및 학습된 복수의 화상 이미지에 대해서 검사 영상과 대조하는 단계;를 포함하며, 학습하는 단계는, 복수의 화상 이미지에 대해...

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Hauptverfasser: CHO, JAE SOO, PARK, JONG SEOP, KIM, GI SEOK, PARK, YO HAN
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:소정 영역에 도포된 실러의 화상 이미지를 검사 영상으로서 얻기 위한 비전 검사용 카메라; 및 비전 검사용 카메라로부터 얻어진 검사 영상에 대해서 이미지 처리를 위한 이미지 처리부;를 포함하며, 이미지 처리부는 얻어진 검사 영상에 대해서, 실러 도포 판정은, 제 1 알고리즘으로서, 제 1 도포 상태를 갖는 복수의 화상 이미지를 획득하는 단계; 획득된 복수의 화상 이미지에 대해서 실러 도포 상태를 학습하는 단계; 및 학습된 복수의 화상 이미지에 대해서 검사 영상과 대조하는 단계;를 포함하며, 학습하는 단계는, 복수의 화상 이미지에 대해서, 각 영역별 실러 도포의 밝기값 통계 데이터를 추출하는 단계; 및 복수의 화상 이미지에 대해서, 각 영역별 실러 도포의 최대-최소 도포 면적의 비율을 추출하는 단계;를 포함하며, 각 영역별 실러 도포의 밝기값 통계 데이터를 추출하는 단계는, 실러 도포 영역에 대해서 이진화 처리하는 단계;를 더 포함하며, 이진화 처리 단계는, 실러 도포의 각 영역에 대해서, 실러 도포의 일 화소의 평균 밝기값을라고 하고, 실러 도포의 일 화소의 밝기값의 표준 편차를라고 하면, 해당 화소에 대해서,- n *와+ n *사이의 밝기값을 갖는 화소의 경우에는 해당 화소를 실러 화소로 이진화하고, 그 이외의 밝기값을 갖는 화소의 경우에는 배경 화소로 판별(이때, n은 2 또는 3)하며, 이와 같이 하여 얻어진 실러 도포 영역에 대해서, 도포된 실러 면적을 S라 하고, 검사 영역의 면적을 A라고 하면, (S / A) * 100 (%)의 비율()을 얻는 계산을 제 1 상태를 갖는 복수의 화상 이미지에 대해서 수행하여 제 1 비율((max))과 제 2 비율((min))을 얻으며, 제 1 비율을 상회하는 실러 과도포 상태; 제 1 비율과 제 2 비율 사이에 위치하는 실러 적정 도포 상태; 및 제 2 비율을 하회하는 실러 과부족 도포 상태;를 각각 판별하며, 실러 과도포 상태, 및 실러 과부족 도포 상태는, 다시, 소정의 제 1 임계치 및 소정의 제 2 임계치를 기준으로 하여 제 2 도포 상태 및 제 3 도포 상태로 분할하여 판정하는 제 1 알고리즘을 갖는, 실러 도포 비전 검사 시스템이 제공된다.