SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME

A sputtering apparatus includes a process chamber in which a sputtering process is performed, a substrate holder provided in the process chamber and fixing a horizontal position of a substrate during the sputtering process, and a first sputter gun provided to be vertically spaced apart from the subs...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LEE, JOON MYOUNG, KIM, WOO JIN
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator LEE, JOON MYOUNG
KIM, WOO JIN
description A sputtering apparatus includes a process chamber in which a sputtering process is performed, a substrate holder provided in the process chamber and fixing a horizontal position of a substrate during the sputtering process, and a first sputter gun provided to be vertically spaced apart from the substrate in the process chamber. The first sputter gun is spaced apart from the substrate by a first horizontal distance during the sputtering process. The first sputter gun is fixed during the sputtering process. The first horizontal distance is a distance measured on the horizontal plane as the first sputter gun is projected onto a horizontal plane extending from the upper surface of the substrate. 스퍼터링 장치는, 그 내부에서 스퍼터링 공정이 수행되는 프로세스 챔버, 상기 프로세스 챔버 내에 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 기판의 수평적 위치를 고정시키는 기판 홀더, 및 상기 프로세스 챔버 내에 상기 기판으로부터 수직적으로 이격되어 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 상기 기판으로부터 수평적으로 제1 거리로 이격되도록 고정되는 제1 스퍼터 건을 포함한다. 상기 제1 거리는 상기 제1 스퍼터 건이 상기 기판의 상면으로부터 연장된 수평면 상으로 투영되어 상기 수평면 상에서 측정된 거리이다.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20170045696A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20170045696A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20170045696A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZAgNDggNCXEN8vRzV3AMCHAMcgwJDXYNVnD0c1FwVPB1DfHwd1Hwd1Nw8w_yBanxdXT3cw3xdAZK-foHRSq4uIZ5OgPVhwaDZEM8XBWCHX1deRhY0xJzilN5oTQ3g7Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvHeQkYGhuYGBiamZpZmjMXGqABvvMTM</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME</title><source>esp@cenet</source><creator>LEE, JOON MYOUNG ; KIM, WOO JIN</creator><creatorcontrib>LEE, JOON MYOUNG ; KIM, WOO JIN</creatorcontrib><description>A sputtering apparatus includes a process chamber in which a sputtering process is performed, a substrate holder provided in the process chamber and fixing a horizontal position of a substrate during the sputtering process, and a first sputter gun provided to be vertically spaced apart from the substrate in the process chamber. The first sputter gun is spaced apart from the substrate by a first horizontal distance during the sputtering process. The first sputter gun is fixed during the sputtering process. The first horizontal distance is a distance measured on the horizontal plane as the first sputter gun is projected onto a horizontal plane extending from the upper surface of the substrate. 스퍼터링 장치는, 그 내부에서 스퍼터링 공정이 수행되는 프로세스 챔버, 상기 프로세스 챔버 내에 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 기판의 수평적 위치를 고정시키는 기판 홀더, 및 상기 프로세스 챔버 내에 상기 기판으로부터 수직적으로 이격되어 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 상기 기판으로부터 수평적으로 제1 거리로 이격되도록 고정되는 제1 스퍼터 건을 포함한다. 상기 제1 거리는 상기 제1 스퍼터 건이 상기 기판의 상면으로부터 연장된 수평면 상으로 투영되어 상기 수평면 상에서 측정된 거리이다.</description><language>eng ; kor</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170427&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20170045696A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170427&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20170045696A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LEE, JOON MYOUNG</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, WOO JIN</creatorcontrib><title>SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME</title><description>A sputtering apparatus includes a process chamber in which a sputtering process is performed, a substrate holder provided in the process chamber and fixing a horizontal position of a substrate during the sputtering process, and a first sputter gun provided to be vertically spaced apart from the substrate in the process chamber. The first sputter gun is spaced apart from the substrate by a first horizontal distance during the sputtering process. The first sputter gun is fixed during the sputtering process. The first horizontal distance is a distance measured on the horizontal plane as the first sputter gun is projected onto a horizontal plane extending from the upper surface of the substrate. 스퍼터링 장치는, 그 내부에서 스퍼터링 공정이 수행되는 프로세스 챔버, 상기 프로세스 챔버 내에 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 기판의 수평적 위치를 고정시키는 기판 홀더, 및 상기 프로세스 챔버 내에 상기 기판으로부터 수직적으로 이격되어 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 상기 기판으로부터 수평적으로 제1 거리로 이격되도록 고정되는 제1 스퍼터 건을 포함한다. 상기 제1 거리는 상기 제1 스퍼터 건이 상기 기판의 상면으로부터 연장된 수평면 상으로 투영되어 상기 수평면 상에서 측정된 거리이다.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2017</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZAgNDggNCXEN8vRzV3AMCHAMcgwJDXYNVnD0c1FwVPB1DfHwd1Hwd1Nw8w_yBanxdXT3cw3xdAZK-foHRSq4uIZ5OgPVhwaDZEM8XBWCHX1deRhY0xJzilN5oTQ3g7Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvHeQkYGhuYGBiamZpZmjMXGqABvvMTM</recordid><startdate>20170427</startdate><enddate>20170427</enddate><creator>LEE, JOON MYOUNG</creator><creator>KIM, WOO JIN</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20170427</creationdate><title>SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME</title><author>LEE, JOON MYOUNG ; KIM, WOO JIN</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20170045696A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2017</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LEE, JOON MYOUNG</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, WOO JIN</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LEE, JOON MYOUNG</au><au>KIM, WOO JIN</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME</title><date>2017-04-27</date><risdate>2017</risdate><abstract>A sputtering apparatus includes a process chamber in which a sputtering process is performed, a substrate holder provided in the process chamber and fixing a horizontal position of a substrate during the sputtering process, and a first sputter gun provided to be vertically spaced apart from the substrate in the process chamber. The first sputter gun is spaced apart from the substrate by a first horizontal distance during the sputtering process. The first sputter gun is fixed during the sputtering process. The first horizontal distance is a distance measured on the horizontal plane as the first sputter gun is projected onto a horizontal plane extending from the upper surface of the substrate. 스퍼터링 장치는, 그 내부에서 스퍼터링 공정이 수행되는 프로세스 챔버, 상기 프로세스 챔버 내에 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 기판의 수평적 위치를 고정시키는 기판 홀더, 및 상기 프로세스 챔버 내에 상기 기판으로부터 수직적으로 이격되어 제공되고, 상기 스퍼터링 공정 동안 상기 기판으로부터 수평적으로 제1 거리로 이격되도록 고정되는 제1 스퍼터 건을 포함한다. 상기 제1 거리는 상기 제1 스퍼터 건이 상기 기판의 상면으로부터 연장된 수평면 상으로 투영되어 상기 수평면 상에서 측정된 거리이다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; kor
recordid cdi_epo_espacenet_KR20170045696A
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
title SPUTTERING APPARATUSES AND A METHOD OF FORMING MAGNETIC MEMORY DEVICES USING THE SAME
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-06T18%3A15%3A20IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=LEE,%20JOON%20MYOUNG&rft.date=2017-04-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20170045696A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true