Display device

The present invention is to provide a method which mitigates an electrostatic defect occurring after a cell area unit cutting process. To this end, the present invention forms, as an electrostatic derivative, a dummy structure composed of at least a part of a structure transferring a test signal to the inside of a display area from a signal transfer wire on a non-display area where the signal transfer wire for transferring the test signal and a test transistor are arranged. Accordingly, a defect occurring in a wire or an element by static electricity after cutting with a cell unit is mitigated, and a low quality image is mitigated since a larger common voltage wire can be formed. 본 발명은 셀 영역 단위 절단 공정 후에 발생하는 정전기 결함을 개선할 수 있는 방안을 제공하는 것에 과제가 있다. 이를 위해, 본 발명에서는 검사용 신호를 전달하는 신호전달배선과 검사용 트랜지스터가 배치된 비표시영역에 대해, 신호전달배선으로부터 표시영역 내부로 검사용 신호를 전달하는 구조체 중 적어도 일부로 구성된 더미 구조체를 정전기 유도체로 형성하게 된다. 이에 따라, 셀 단위 절단 후에 정전기에 의해 배선이나 소자에 결함이 발생하는 것을 개선하고, 공통전압배선을 보다 넓은 면적으로 형성할 수 있어 화질 불량이 개선된다.