SENSOR ELEMENT FOR DETECTING AT LEAST ONE PROPERTY OF A MEASURED GAS IN A MEASURED GAS CHAMBER AND METHOD FOR PRODUCING SAME

본 발명은 측정 가스 챔버 내 측정 가스의 적어도 하나의 특성을 검출하기 위한, 특히 측정 가스 내 가스 성분들의 비율 또는 측정 가스의 온도를 검출하기 위한 센서 소자(10)에 관한 것이다. 센서 소자(10)는 적어도 하나의 고체 전해질 층(12, 14, 16)을 포함한다. 고체 전해질 층(12, 14, 16)은 적어도 하나의 비어 홀(42)을 포함한다. 센서 소자(10)는 비어 홀(42)을 통해 고체 전해질 층(12, 14, 16)의 상부면(18, 32)으로부터 고체 전해질 층(12, 14, 16)의 하부면으로의 도전 접속을 형...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SCHNEIDER JENS, ROTTMANN ANDREAS, ALT PETER, JUESTEL THOMAS, DOTTERWEICH OLIVER, BUSE FRANK, BISCHOFF ALEXANDER, TAEUBER ANTJE
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS MEASURING MEASURING QUANTITY OF HEAT MEASURING TEMPERATURE PHYSICS PRINTED CIRCUITS TESTING THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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