APPARATUS FOR EXAMINING EDGE OF FLAT PANEL DISPLAY PANEL AND METHOD OF USING THE SAME

Disclosed are an apparatus for examining a panel edge of a flat-panel display, comprising: a fixation frame extending in one axial direction; a variable table moving in one axial direction together with the fixation frame, installed in the other axial direction and having a pair of variable frames with a lineal support plate on which a substrate is placed, wherein the other axial direction is intersecting with the one axial direction; edge examination units installed respectively on the variable frames and capable of moving in the other axial direction along the variable frame; and a rotation unit rotating the substrate on the lineal support plate, and a method for examining the edge using the same. According to the present invention, the apparatus for examining a panel edge has effects of: being manufactured and installed easily since a structure of the apparatus is lightweight and simplified compared to a conventional apparatus; reducing examination time and enhancing operation rate and examination efficiency of the apparatus since the examination operation removes artificial operations. 일축 방향으로 길게 설치되는 고정프레임, 고정프레임을 따라 일축 방향으로 이동할 수 있고, 일축 방향과 교차하는 타축 방향으로 길게 설치되며, 기판이 놓이는 선형 지지대를 가지는 한 쌍의 가변프레임을 구비하는 가변테이블, 가변프레임 각각에 설치되어 가변프레임을 따라 타축 방향으로 이동할 수 있도록 이루어지는 에지 검사부 및 기판을 선형지지대 위에서 회전시킬 수 있는 회전부를 구비하여 이루어지는 평판디스플레이 패널 에지 검사장치와 이 장치를 이용한 에지 검사방법이 개시된다. 본 발명에 따르면 패널 에지 검사장치의 구조가 종래에 비해 전체적으로 경량화 단순화되어 제작 및 설치에 유리하고, 운용에 있어서도 검사 동작이 인위적 동작을 없애 검사 시간을 줄일 수 있고, 장비의 가동율과 검사 효율을 높일 수 있다.