SEMICONDUCTOR CHIP TEST FOR CONNECTOR PIN

The present invention relates to a connector pin for testing a semiconductor chip, which can prevent the wear of a terminal unit of a test circuit board in contact with a lower terminal by preventing the rotation of a probe due to movement in a state in which the probe for connecting a semiconductor chip and the test circuit board is inserted into a test socket and can maximize the efficiency of a test by inducing accurate contact between the probe and the test circuit board. The connector pin for testing a semiconductor chip comprises a plurality of probes inserted into a base cover and a lower cover of the test socket. The probe consists of an upper terminal for testing the semiconductor chip placed on the test socket and the lower terminal in contact with the test circuit board placed under the test socket. The probe has a body for receiving the upper terminal and the lower terminal. A protrusion is formed in at least one point of the outer peripheral surface of the body. An upper groove is formed on the base cover, and the protrusion is inserted into the upper groove to prevent the rotation of the body. 본 발명은 반도체 칩과 검사용 회로기판을 연결하는 프로브가 테스트소켓에 끼워진 상태에서 유동으로 인한 회전이 방지되도록 함으로써, 하부단자와 접촉되는 검사용 회로기판의 단자부 마모가 방지되고 또한 프로브와 검사용 회로기판의 정확한 접촉을 유도하여 검사의 효율성을 극대화시킬 수 있는 반도체 칩 검사용 커넥터핀에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 테스트소켓의 베이스커버 및 하부커버에 꼽히는 다수의 프로브가 구비되고, 상기 프로브는 상기 테스트소켓의 상부에 놓이는 반도체 칩을 검사하기 위한 상부단자 및 상기 테스트소켓의 하부에 놓이는 검사용 회로기판과 접촉되는 하부단자로 구성된 반도체 칩 검사용 커넥터핀에 있어서, 상기 프로브는 상기 상부단자 및 하부단자를 수용하는 몸체가 구비되고, 상기 몸체의 외주면에는 적어도 한 곳에 돌기가 형성되며, 상기 베이스커버에는 상기 돌기가 끼워지는 상부홈이 형성되어 상기 몸체의 회전이 방지되도록 한 특징이 있다.