PATTERNING METHOD USING METAL MASK, AND METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME PATTERNING METHOD
A technical idea of the present invention is to provide a patterning method using a metal mask, which can easily form a hole at a high aspect ratio, and a method for manufacturing a semiconductor device including the patterning method. The patterning method comprises the steps of: sequentially formi...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | A technical idea of the present invention is to provide a patterning method using a metal mask, which can easily form a hole at a high aspect ratio, and a method for manufacturing a semiconductor device including the patterning method. The patterning method comprises the steps of: sequentially forming a lower metal layer and an upper metal layer on a layer to be etched; forming an upper metal mask by patterning the upper metal layer; forming a lower metal mask by patterning the lower metal layer using the upper metal mask; and patterning the layer to be etched by using the upper metal mask.
본 발명의 기술적 사상은 높은 종횡비의 홀을 용이하게 형성할 수 있는 금속 마스크를 이용한 패터닝 방법 및 그 패터닝 방법을 포함한 반도체 소자 제조방법을 제공한다. 그 패터닝 방법은 식각 대상층 상에 하부 금속층과 상부 금속층을 순차적으로 형성하는 단계; 상기 상부 금속층을 패터닝하여 상부 금속 마스크를 형성하는 단계; 상기 상부 금속 마스크를 이용하여 상기 하부 금속층을 패터닝하여 하부 금속 마스크를 형성하는 단계; 및 상기 상부 금속 마스크를 이용하여 상기 식각 대상층을 패터닝하는 단계;를 포함한다. |
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